期刊文献+

非完整样本容量对工序能力影响分析

The Analysis of the Influence of Incomplete Sample Size on Process Capability
原文传递
导出
摘要 根据非线性最小二乘拟合方法,针对元器件厂家进行工序能力指数Cpk计算时,在不能获得全部数据的情况下无法使用传统方法完成Cpk的正确评估,采用Levenberg-Marquarat算法解决Gauss-Newton算法中的Hessian矩阵病态问题,引入阻尼因子调整取值点的迭代方向,以数学期望公式表征累积分布函数值,建立数据非线性优化拟合模型。以实例检验此数学模型并得出常用数据值。 Process capability index ( Cpk ) is adopted as an indication of the production level in modern industry. When all data for calculating Cpk cannot be acquired and its precision required is very high, using the traditional method to calculate Cpk of the normal distribution parameters will always give a wrong conclusion at the PPM level. In view of the specific property of the data, a model of calculating Cpk based on non-linear least squares fitting are proposed. Due to the pathologic matrix of Gauss-Newton algorithm the Levenberg-Marquarat is used in the model. Also, the mathematic expectation formula is used to characterize the value of cumulative distribution function and the results are satisfactory in practical application.
出处 《工业工程与管理》 2008年第2期60-63,共4页 Industrial Engineering and Management
基金 模拟集成电路国家重点实验室基金资助项目(51439040103DZ0102)
关键词 非线性最小二乘法 工序能力指数 正态分布 标准偏差 样本容量 non-linear least squares process capability index normal distribution standard deviation sample size
  • 相关文献

参考文献12

  • 1Montgomery D C. Introduction to Statistical Quality Control [M]. New York: Wiley, 1996. 被引量:1
  • 2Wei Xing Zheng. A Least-Squares Based Method for Autoregressive Signals in the Presence of Noise[J]. IEEE Transactions on circuits and systems- II: analog and digital signal processing, 1999, 46(1) : 81-84. 被引量:1
  • 3Marquardt D W. An Algorithm for Least squares Estimation of Non-liner Parameters[J]. J-Soc. Indust. Appl. Math, 1963, 2(10): 431-441. 被引量:1
  • 4Kotzand S, Johnson N L. Process Capability Indices[M]. London,U. K. :Chapman&Hall, 1993. 被引量:1
  • 5程兴新,曹敏编著..统计计算方法[M].北京:北京大学出版社,1989:300.
  • 6方再根编著..计算机模拟和蒙特卡洛方法[M].北京:北京工业学院出版社,1988:460.
  • 7杨华中,汪蕙编著..数值计算方法与C语言工程函数库[M].北京:科学出版社,1996:448.
  • 8邓乃扬等著..无约束最优化计算方法[M].北京:科学出版社,1982:314.
  • 9高惠璇编著..统计计算[M].北京:北京大学出版社,1995:410.
  • 10龚自立,贾新章,白永亮.元器件质量与可靠性数据统计分布规律的拟合[J].西安电子科技大学学报,2001,28(3):336-339. 被引量:17

二级参考文献11

共引文献20

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部