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关于系统级测试集成中使用边界扫描的最新进展

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摘要 边界扫描和其它可测性设计技术在当今系统级测试集成中扮演着越来越重要的角色。在过去一年里,随着可利用的元器件和工具逐渐增多,这些技术变得更加普及。
出处 《国外电子测量技术》 1997年第4期39-40,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology
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