摘要
详述了X射线光电子能谱(XPS)工作的基本原理,测定变性淀粉基团在淀粉颗粒表面分布的样品预处理方法,以及在酯化、醚化、接枝共聚改性淀粉基团分布分析中的应用,并对XPS在变性淀粉基团分布分析前景进行了展望。
The basic working principle of X-ray photoelectron spectroscopy （XPS） , the methods for pre-treating samples of modified starch group distributed on starch granule surface and application in distribution analysis of grafl-copolymerized starch group, as well as prospect of XPS in distribution analysis of modified starch group were detailed.
出处
《粮食与饲料工业》
CAS
北大核心
2007年第6期28-29,32,共3页
Cereal & Feed Industry
基金
华南理工大学自然科学基金(C07E5050350)资助
