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成败型产品的可靠性估计 被引量:1

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摘要 估计成败型产品的可靠性.可以先根据试验子梓用数学方法求出可靠性概率分布密度函数,然后对其积分求出其可靠性置信下限.
作者 徐明升
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1997年第1期7-9,共3页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
  • 相关文献

同被引文献3

  • 1GB/T 4087.1-1983数据的统计处理和解释:二项分布参数的点估计. 被引量:1
  • 2GB/T 4087.2-1983数据的统计处理和解释:二项分布参数的区间估计. 被引量:1
  • 3GB/T 4087.3-1985数据的统计处理和解释:二项分布可靠度单侧置信下限. 被引量:1

引证文献1

二级引证文献11

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