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XRD灵敏度在同步辐射源上的绝对刻度 被引量:7

ABSOLUTE CALIBRATION OF SENSITIVITY OF XRD ON THE SYNCHROTRON RADIATION SOURCE
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摘要 在BEPC同步辐射的3B1束线上,利用多层镜分光,获得了单色性较好,强度较高的软X光光源。采用美国进口的AXUV—100Si光二极管作为二级标准,对XRD探测器和滤片进行绝对刻度,获得了各种阴极XRD的灵敏度,其结果与LLNL的实验结果吻合,并对实验结果作了分析。 The monochromatic X-ray source was obtained using multilayer mirror on the BEPC-SR.The Sensitivity of X-ray diodes(XRD) and thickness of filters were calibrated using AXUV-100 silicon photodetector as the secondary standard.The experimental results of XRD sensitivity are consistent with LLNL experimental results.
出处 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 1996年第4期563-569,共7页 High Power Laser and Particle Beams
基金 国家高技术惯性约束聚变领域资助
关键词 同步辐射源 XRD的灵敏度 绝对刻度 synchrotron radiation source,sensitivity of XRD, Absolute calibration
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参考文献1

同被引文献45

引证文献7

二级引证文献20

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