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磁光薄膜在椭偏测量中的应用

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摘要由费尔德（Ｖｅｒｄｅｔ）常数大的石榴石磁光薄膜制成的磁光调制器具有体积小、驱动功率低等优点。将它应用于椭偏测量中，可以降低对激光器输出光强稳定性的要求，测量准确度也会得到较大的提高。

作者金恩培张立彬

机构地区哈尔滨工业大学应用物理系

出处《计量技术》 1995年第9期26-27,共2页 Measurement Technique

关键词磁光调制磁光薄膜椭偏测量磁光调制器

分类号 O436.4 [机械工程—光学工程]

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计量技术

1995年第9期

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