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失效机理鉴别在加速试验中的作用 被引量：3

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摘要 就正常使用条件下出现的某些主要失效机理而论,加速寿命试验技术提供了一种研究电子元器件可靠性的简便方法.淡而,加速试验经常是在不知道失效机理,以及不保证被试验所加速的失效机理与正常使用条件下所观察到的失效机理相同的情况下进行.本文总结了电子元器件和封壳的普通失效机理,并研究了在加速试验过程中可能出现的失效机理转变.
作者 J.M.Hu D.Barker 李世明
机构地区 重庆试验设备厂
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1995年第5期27-34,共8页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 加速试验 失效机理 可靠性预测 电子元器件
分类号 TN606 [电子电信—电路与系统]
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引证文献3

二级引证文献13

电子产品可靠性与环境试验
1995年 第5期

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