自动测试仪故障诊断系统
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1刘三清,秦祖新.通信电路:LSI/VLSI发展的新领域[J].微电子学,1991,21(6):45-50.
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2A.I.Akinwande,敖金平.用于超高速数字和混合模拟/数字LSI/VLSI电路的自对准栅Ⅲ-Ⅴ族异质结构FET技术[J].半导体情报,1991,28(2):45-56.
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3刘三清,秦祖新.通信LSI/VLSI工艺[J].微电子学,1991,21(6):51-55.
-
4刘军,顾德仁,兰家隆,王兆明.LSI/VLSI布线的退火模拟算法的研究与实现[J].电子学报,1989,17(5):121-123. 被引量:5
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5胡才雄.LSI/VLSI中缺陷、杂质与器件性能的关系[J].上海金属(有色分册),1992,13(1):47-51.
-
6鲍荣生.BiCMOS结构中阱特性的研究[J].微电子学,1999,29(5):331-335.
-
7高建华.一种新的LSI/VLSI电路测试方法[J].中国纺织大学学报,1995,21(1):116-123.
-
8赵天麟.关于LSI/VLSI的设计规则检查[J].微处理机,1998,19(1):11-14.
-
9郭志光.试论图形发生器[J].LSI制造与测试,1989,10(4):36-42. 被引量:1
-
10林争辉.集成电路设计、验证、测试系统的研究[J].上海交通大学学报,1995,29(1):119-127. 被引量:1
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