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低介电常数含氟碳化膜微观性能分析

Microcapabilities study on fluorinated carbon films deposited by PECVD
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摘要 以CH4 和CF4 的混合气体作源气体 ,利用等离子体增强型化学气相沉积法 (PECVD)改变沉积条件 ,制备了一批含氟碳化膜样品。并用原子力显微镜 (AFM)、X射线衍射、红外光谱、紫外一可见光等设备分析了薄膜的表面形貌和微观性能。 Fluorinated carbon films were deposited by PECVD using CH 4 and CF 4asa source gases at varying deposition conditions.X-ray diffraction, atomic force microscope(AFM), XRD spectrum UV-VIS (Uitraviolet Visible Spectrometry)were applied to analyze the Fluorinated carbon film's construction and its microcapabilities.
作者 刘一兵
机构地区 湖南省邵阳市
出处 《湖南理工学院学报(自然科学版)》 CAS 2004年第4期62-65,共4页 Journal of Hunan Institute of Science and Technology(Natural Sciences)
关键词 PECVD 含氟碳化膜 微观性能 PECVD Fluorinated Carbon Films microcapabilities
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