SoC中混合信号测试与可测性设计研究被引量：1

SoC Mixed-Signal Test and Design for Testability

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摘要 SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望. SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望.

作者魏淑华侯明金

机构地区北方工业大学信息工程学院微电子中心

出处《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期190-194,共5页 Journal of Computer Research and Development

关键词混合信号故障诊断 DFT BIST 边界扫描 IEEE1149.4 mixed-signal fault diagnosis design for testability built-in self-test boundary scan IEEE 1149.4

分类号 TP3 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

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