摘要
在分析采样理论和微扫描理论的基础上,引入了一个评价光电成像系统混淆噪声的品质因数,定量地分析了不同模式的微扫描对系统混淆噪声的改善程度。
Based on the analysis of the sampling and microscanning principe,a figure of merit for aliased signal energy is introduced in infrared imaging system.Considering a practical infrared imaging system,the improvement of aliasing noise is analyzed in different microscanning model.
出处
《光学技术》
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z1期404-406,409,共4页
Optical Technique
关键词
光电成像系统
微扫描
混淆噪声
能量谱密度
信噪比
opto-electronic image system
microscanning
aliasing
energy spectral density
signal noise ratio
