期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
共找到6篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
基于ADI公司Blackfin处理器的MPEG-4视频编码器的设计 被引量：3
1
作者 袁潮 黄晓伟 李川 《电子产品世界》 2003年第05A期i011-i011,i005,i013,共3页
关键词 ADI公司 BLACKFIN 处理器 MPEG-4 视频编码器 功能结构 压缩标准
下载PDF
μC/OS-II在ADSP-21535上的实现
2
作者 刘慧 金伟正 林海虹 《电子产品世界》 2003年第07A期55-57,共3页
本文详细阐述了基于ADSP-21535的mC/OS-II的移植技术。
关键词 μC/OS-Ⅱ ADSP-21535 实时执行程序 移植技术 DSP 数字信号处理器
下载PDF
iCMOS^(TM)——工业电子工程领域的重大突破
3
作者 Denis Doyle 《今日电子》 2005年第1期77-78,共2页
关键词 CMOS 电子工程 电噪声 数据转换器 放大器 多路复用器 IC 工业市场 客户 突破
下载PDF
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
4
作者 James Cattrey Conor Power 《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第10期31-31,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时，并且由于各个应用之间即使有很小的差异，也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
关键词 高精密度 准确度 IDC CDC 单芯片 分立器件 检测应用 解决方案 电容检测
原文传递
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
5
作者 James Cattrey Conor Power 《电子设计应用》 2006年第4期9-9,共1页
关键词 高精密度 准确度 IDC CDC 单芯片 分立器件 检测应用 电容检测 设计验证
下载PDF
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
6
作者 James Caffrey Conor Power 《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第8期15-15,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.
关键词 精密度 准确度 单芯片 CDC IDC 模数转换器 分立器件
原文传递
已选择0条
导出题录 引用分析
参考文献
引证文献
 统计分析
检索结果
已选文献
上一页 1 下一页 到第 页
使用帮助 返回顶部