用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
摘要
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时，并且由于各个应用之间即使有很小的差异，也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
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