期刊导航
期刊开放获取
cqvip
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
3
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
1
作者
James Cattrey
Conor Power
《电子设计应用》
2006年第4期9-9,共1页
关键词
高精密度
准确度
IDC
CDC
单芯片
分立器件
检测应用
电容检测
设计验证
下载PDF
职称材料
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
2
作者
James Cattrey
Conor Power
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005年第10期31-31,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
关键词
高精密度
准确度
IDC
CDC
单芯片
分立器件
检测应用
解决方案
电容检测
原文传递
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
3
作者
James Caffrey
Conor Power
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005年第8期15-15,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.
关键词
精密度
准确度
单芯片
CDC
IDC
模数转换器
分立器件
原文传递
题名
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
1
作者
James Cattrey
Conor Power
机构
美国
模拟器
件
公司
(
简称
adi
)
精密
转换器
部
adi
公司
仪
器
仪表积汽车
转换器
部
出处
《电子设计应用》
2006年第4期9-9,共1页
关键词
高精密度
准确度
IDC
CDC
单芯片
分立器件
检测应用
电容检测
设计验证
分类号
TP393.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TK474.73 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
下载PDF
职称材料
题名
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
2
作者
James Cattrey
Conor Power
机构
美国
模拟器
件
公司
(
简称
adi
)
精密
转换器
部
产品市场经理
adi
公司
仪
器
仪表和汽车
转换器
部
产品市场经理
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005年第10期31-31,共1页
文摘
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
关键词
高精密度
准确度
IDC
CDC
单芯片
分立器件
检测应用
解决方案
电容检测
分类号
TP393.4 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
TK474.73 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
原文传递
题名
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
3
作者
James Caffrey
Conor Power
机构
美国
模拟器
件
公司
(
简称
adi
)
精密
转换器
部
产品市场经理
adi
公司
仪
器
仪表和汽车
转换器
部
产品市场经理
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005年第8期15-15,共1页
文摘
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.
关键词
精密度
准确度
单芯片
CDC
IDC
模数转换器
分立器件
分类号
TP335.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
James Cattrey
Conor Power
《电子设计应用》
2006
0
下载PDF
职称材料
2
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
James Cattrey
Conor Power
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005
0
原文传递
3
用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
James Caffrey
Conor Power
《电子设计技术 EDN CHINA》
2005
0
原文传递
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部