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用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
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作者 James Cattrey Conor Power 《电子设计应用》 2006年第4期9-9,共1页
关键词 高精密度 准确度 IDC CDC 单芯片 分立器件 检测应用 电容检测 设计验证
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用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
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作者 James Cattrey Conor Power 《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第10期31-31,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案。这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定。
关键词 高精密度 准确度 IDC CDC 单芯片 分立器件 检测应用 解决方案 电容检测
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用单芯片CDC和IDC提高精密度和准确度
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作者 James Caffrey Conor Power 《电子设计技术 EDN CHINA》 2005年第8期15-15,共1页
传统的高精密电容检测和阻抗检测应用需要将一套收集的分立器件巧妙的组合起来以提供完整的测量解决方案.这种方法不仅在器件选择方面十分耗时,并且由于各个应用之间即使有很小的差异,也需要做大量设计验证、评估、优化和鉴定.
关键词 精密度 准确度 单芯片 CDC IDC 模数转换器 分立器件
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