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Atomic Interface Catalytically Synthesizing SnP/CoP Hetero-Nanocrystals within Dual-Carbon Hybrids for Ultrafast Lithium-Ion Batteries 被引量:1
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作者 Chen Hu Yanjie Hu +3 位作者 Aiping Chen Xuezhi Duan Hao Jiang Chunzhong Li 《Engineering》 SCIE EI CAS 2022年第11期154-160,共7页
Tin phosphides are attractive anode materials for ultrafast lithium-ion batteries(LIBs)because of their ultrahigh Li-ion diffusion capability and large theoretical-specific capacity.However,difficulties in synthesis a... Tin phosphides are attractive anode materials for ultrafast lithium-ion batteries(LIBs)because of their ultrahigh Li-ion diffusion capability and large theoretical-specific capacity.However,difficulties in synthesis and large size enabling electrochemical irreversibility impede their applications.Herein,an in situ catalytic phosphorization strategy is developed to synthesize SnP/CoP hetero-nanocrystals within reduced graphene oxide(rGO)-coated carbon frameworks,in which the SnP relative formation energy is significantly decreased according to density functional theory(DFT)calculations.The optimized hybrids exhibit ultrafast charge/discharge capability(260 mA·h·g^(-1)at 50 A·g^(-1))without capacity fading(645 mA·h·g^(-1)at 2 A·g^(-1))through 1500 cycles.The lithiation/delithiation mechanism is disclosed,showing that the 4.0 nm sized SnP/CoP nanocrystals possess a very high reversibility and that the previously formed metallic Co of CoP at a relatively high potential accelerates the subsequent reaction kinetics of SnP,hence endowing them with ultrafast charge/discharge capability,which is further verified by the relative dynamic current density distributions according to the finite element analysis. 展开更多
关键词 Catalytic phosphorization SNP hetero-nanocrystals Fast charging Li-ion batteries
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基于锗硅异质纳米晶的非易失浮栅存储器的存储特性
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作者 闾锦 陈裕斌 +3 位作者 左正 施毅 濮林 郑有炓 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第4期770-773,共4页
利用自组织生长和选择化学刻蚀方法在超薄SiO2隧穿氧化层上制备了渐变锗硅异质纳米晶,并通过电容-电压特性和电容-时间特性研究了该纳米结构浮栅存储器的存储特性.测试结果表明,该异质纳米晶非易失浮栅存储器具有良好的空穴存储特性,这... 利用自组织生长和选择化学刻蚀方法在超薄SiO2隧穿氧化层上制备了渐变锗硅异质纳米晶,并通过电容-电压特性和电容-时间特性研究了该纳米结构浮栅存储器的存储特性.测试结果表明,该异质纳米晶非易失浮栅存储器具有良好的空穴存储特性,这是由于渐变锗硅异质纳米晶中Ge的价带高于Si的价带形成了复合势垒,空穴有效地存储在复合势垒的Ge的一侧. 展开更多
关键词 异质纳米晶 非易失浮栅存储器 电容-电压特性 自组织生长 选择化学刻蚀
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p沟道锗/硅异质纳米结构MOSFET存储器及其逻辑阵列 被引量:2
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作者 杨红官 施毅 +4 位作者 闾锦 濮林 沈波 张荣 郑有炓 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期179-184,共6页
采用巴丁 (Bardeen)传输哈密顿方法 ,数值计算了 p沟道锗 /硅异质纳米结构存储器的时间特性 .由于台阶状隧穿势垒和较高价带带边的作用 ,这种新型的存储器单元可以同时实现器件的快速编程和长久存储 ,具有优异的存储特性 .以 2× 2... 采用巴丁 (Bardeen)传输哈密顿方法 ,数值计算了 p沟道锗 /硅异质纳米结构存储器的时间特性 .由于台阶状隧穿势垒和较高价带带边的作用 ,这种新型的存储器单元可以同时实现器件的快速编程和长久存储 ,具有优异的存储特性 .以 2× 2逻辑阵列为例说明了这类存储器单元组成逻辑电路的设计原理 .研究结果表明 :这种器件可以作为在室温下工作的性能优异的非易失性存储器单元 ,有望在将来的超大规模集成电路中获得应用 . 展开更多
关键词 锗/硅 异质纳米结构 存储器 空穴隧穿 数值模拟
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P-channel Ge/Si Hetero-nanocrystal Based MOSFET Memory
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作者 YANG Hong-guan ZHOU Shao-hua +1 位作者 ZENG Yun SHI Yi 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2005年第4期244-247,共4页
The charge storage characteristics of P-channel Ge/Si hetero-nanocrystal based MOSFET memory has been investigated and a logical array has been constructed using this memory cell. In the case of the thickness of tunne... The charge storage characteristics of P-channel Ge/Si hetero-nanocrystal based MOSFET memory has been investigated and a logical array has been constructed using this memory cell. In the case of the thickness of tunneling oxide Tox = 2 nm and the dimensions of Si- and Ge-nanocrystal Dsi = DGe = 5 nm, the retention time of this device can reach ten years(~1 × 108 s) while the programming and erasing time achieve the orders of microsecond and millisecond at the control gate voltage | Vg | = 3 V with respect to N-wells,respectively. Therefore, this novel device, as an excellent nonvolatile memory operating at room temperature,is desired to obtain application in future VLSI. 展开更多
关键词 GE/SI hetero-nanocrystal Nano-memory Direct tunneling Logic array
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锗/硅异质纳米结构中空穴存储特性研究 被引量:4
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作者 杨红官 施毅 +3 位作者 闾锦 濮林 张荣 郑有炓 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2004年第4期1211-1216,共6页
对p沟道锗 硅异质纳米结构存储器空穴隧穿的物理过程作了详细的分析 ,并对器件的擦写和保留时间特性进行了数值模拟 .研究结果表明 :由于异质纳米结构的台阶状隧穿势垒和较高价带带边差的影响 ,与传统的硅纳米结构存储器和n沟道锗 硅... 对p沟道锗 硅异质纳米结构存储器空穴隧穿的物理过程作了详细的分析 ,并对器件的擦写和保留时间特性进行了数值模拟 .研究结果表明 :由于异质纳米结构的台阶状隧穿势垒和较高价带带边差的影响 ,与传统的硅纳米结构存储器和n沟道锗 硅异质纳米结构存储器相比 ,当前器件的保留时间分别提高到 10 8和 10 5 s以上 ,同时器件的擦写时间特性基本保持不变 .这种存储器结构单元有效地解决了快速擦写编程和长久存储之间的矛盾 。 展开更多
关键词 锗/硅异质结 纳米结构 存储器 空穴存储 数值模拟 隧穿势垒 器件结构
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