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题名Dedekind整环的性质研究
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作者
鲁志敏
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机构
南京财经大学应用数学学院
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出处
《佳木斯大学学报（自然科学版）》
CAS
2019年第5期837-838,共2页
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文摘
为了解决Dedekind整环上的一些性质及Dedekind整环上有限生成无扭模结构问题,利用主理想整环和Dedekind整环的关系以及主理想整环上有限生成模的结构的研究方法,得到Dedekind整环上有限生成无扭模是投射摸以及Dedekind整环上一个商环的同构。
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关键词
Dedekind环
有限生成模
无扭模
商环
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Keywords
Dedekind ring
finite-generation mode
torsion-free
quotient ring
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分类号
O153.3
[理学—数学]
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题名特大规模组合电路高速测试生成系统ATGTA-1
被引量：1
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作者
曾芷德
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机构
国防科技大学计算机系
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出处
《国防科技大学学报》
EI
CAS
CSCD
1999年第2期37-41,共5页
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基金
国家自然科学基金
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文摘
针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法，并建成了相应的测试生成系统ＡＴＧＴＡ－１。该系统采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖。测试生成与故障模拟为ｎ对１紧耦合集成方式。该系统运行１０个Ｂｅｎｃｈｍａｒｋ电路，取得了低测试长度、高故障覆盖、高效率的良好效果。
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关键词
VLSI
组合电路
测试生成系统
ATGTA-1
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Keywords
full scan design,finite backtracing test pattern generation, n to 1 tight coupled integrating mode,test code parallelism,single fault propogation,very large scale combination circuit
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分类号
TN470.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名特大规模组合电路测试数据产生方法研究
被引量：2
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作者
曾芷德
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机构
国防科技大学计算机系
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出处
《系统工程与电子技术》
EI
CSCD
1999年第6期1-5,共5页
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基金
国家自然科学基金
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文摘
针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法。该方法采用有限回溯测试模式产生方法生成测试码，采用ｎ（机器字长）个测试码并行的单故障传播方法模拟验证测试覆盖。测试生成与故障模拟为ｎ对１紧耦合集成方式。该方法运行１０个Ｂｅｎｃｈｍａｒｋ电路，取得了低测试长度、高故障覆盖、高效率的良好效果。
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关键词
电路可靠性
测试技术
故障模拟
VLSI
组合电路
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Keywords
Full scan design\ finite backtracking test pattern generation \ N to 1 tight coupled integrating mode\ Parallel pattern\ Single fault propagation \ Upper large scale combination circuit
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分类号
TN470.7
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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