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非晶Ge-S半导体薄膜的研制
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作者 朱尧江 姜节俭 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第4期368-373,共6页
我们用高温熔融和空气中碎火的方法制取了非晶 Ge-S 块状材料,又以该材料为蒸发源材料,用热蒸发方法制备非晶 Ge-S 薄膜。对不同配方比的薄膜进行了光、电性能测试并分析和讨论了测试结果,得出了光学禁带宽度与硫含量的关系。
关键词 非晶态 半导体 薄膜 Ge-S
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