期刊文献+
共找到9篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
晶体点阵参数最小二乘法计算程序
1
作者 陈蓉美 《湖南地质》 1990年第1期54-59,共6页
作者以最小二乘法理法导出了晶体点阵参数计算的公式,并顾及了X射线粉晶衍射图测定所引起的系统误差修正,从而得到点阵参数的最佳估值。以导出的公式为数学模型编制了PC-1500微机的扩展BASIC语言程序,可适用于各晶系点阵参数的计算,使... 作者以最小二乘法理法导出了晶体点阵参数计算的公式,并顾及了X射线粉晶衍射图测定所引起的系统误差修正,从而得到点阵参数的最佳估值。以导出的公式为数学模型编制了PC-1500微机的扩展BASIC语言程序,可适用于各晶系点阵参数的计算,使用方便。 展开更多
关键词 晶体 点阵参数 程序 最小二乘法
下载PDF
X-ray Powder Diffraction Pattern of Bi_4(SiO_4)_3
2
作者 Hongchao LIU Changlin KUO (Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050, China) 《Journal of Materials Science & Technology》 SCIE EI CAS CSCD 1997年第2期145-148,共4页
In cooperation with figure-of-merits the Rietveld analysis can appraise both angular and intensity data of powder diffraction. In this work, X-ray diffraction pattern of Bi4(SiO4)3 was redetermined with intensity figu... In cooperation with figure-of-merits the Rietveld analysis can appraise both angular and intensity data of powder diffraction. In this work, X-ray diffraction pattern of Bi4(SiO4)3 was redetermined with intensity figure-of-merits, which qualify agreement between observed and calculated relative intensities. F30 is 158.90 (0.0059, 32), intensity figure of merit Rint is 8.7, I20(17), 8.0. The values of figure-of-merits show that the data of JCPDS cards are distorted. Both the experimental and calculated peak positions and heights are listed in detail. 展开更多
关键词 SiO4 x-ray powder diffraction pattern of Bi4 BI
下载PDF
一个非立方晶系晶体的X-射线粉末图的指标化方法
3
作者 郭利中 刘光宇 《纺织基础科学学报》 CAS 1994年第1期51-53,16,共4页
本文提出了一种关于非立方晶系晶体的X-射线粉末图的指标化方法,它利用由单晶测得的晶胞参数,通过我们导出的晶胞参数和衍射指标的关系,结合实验数据,便可对非立方晶系的X-射线粉末图指标化。
关键词 非立方晶系 晶体 x射线 粉末图
下载PDF
相近X射线粉末衍射谱异同的判断
4
作者 马礼敦 《理化检验(物理分册)》 CAS 2012年第1期26-32,61,共8页
着重讨论了两张相近X射线粉末衍射谱差异的表现、形成这些差异的可能原因、避免这些差异的可能方法及如何做出它们是代表同一物相还是两个不同物相的结论的方法。
关键词 x射线 粉末衍射谱 物相鉴定 异同判断
下载PDF
IDENTIFICATION AND SIMULATION OF X-RAY POWDER DIFFRACTION PATTERN
5
作者 Shao Fan LIN Xiang Jun LU Wei Fan ZHENG 《Chinese Chemical Letters》 SCIE CAS CSCD 1991年第11期873-876,共4页
A new method for pattern identification and simulation of X-ray powder diffraction data is described, which can give definite phase composition of the unknown rapidly and correctly. The method is implemented in Micro... A new method for pattern identification and simulation of X-ray powder diffraction data is described, which can give definite phase composition of the unknown rapidly and correctly. The method is implemented in Microsoft Fortran 77 for the IBM PC/XT/AT personal computer or their compatibles. 展开更多
关键词 IDENTIFICATION AND SIMULATION OF x-ray powder diffraction pattern
下载PDF
4-羟基吡啶盐酸盐的表征
6
作者 戎红仁 顾浩 《化学世界》 CAS CSCD 北大核心 2010年第1期9-11,21,共4页
在合成4-羟基-3-硝基吡啶(HNP)的过程中发现市场上供应的一种4-羟基吡啶(C)仅含78%4-羟基吡啶(HP),含氯量14.4%。在遇到浓硫酸时放出氯化氢气体,怀疑(C)是HP的盐酸盐。为了证实,制备了HP的两种盐酸盐HP.HCl(A)和(HP)2.HCl.H2O(B),分析... 在合成4-羟基-3-硝基吡啶(HNP)的过程中发现市场上供应的一种4-羟基吡啶(C)仅含78%4-羟基吡啶(HP),含氯量14.4%。在遇到浓硫酸时放出氯化氢气体,怀疑(C)是HP的盐酸盐。为了证实,制备了HP的两种盐酸盐HP.HCl(A)和(HP)2.HCl.H2O(B),分析了它们的组成,用X-射线粉末衍射谱,熔点和水溶液的pH值作为参数进行表征。据此,证实了(C)就是(B)。在此基础上修改了HNP的合成工艺得到了高于文献报道的纯度和收率。 展开更多
关键词 4-羟基吡啶盐酸盐 表征 x-射线粉末衍射谱 熔点 水溶液的pH值
下载PDF
利福霉素类抗生素的晶型与血(尿)药浓度 被引量:9
7
作者 吴小杭 《温州医学院学报》 CAS 2001年第4期225-226,共2页
目的 :探讨利福霉素类抗生素的衍生物 (利福平 ,利福定 ,利福喷丁 )的晶型与血 (尿 )药浓度的关系。方法 :通过正常人空腹口服各不同型晶粉 ,定时收集血、尿标本 ,用杯碟法测定血、尿药含量。结果 :同一药物的不同晶型粉 ,显示出各自不... 目的 :探讨利福霉素类抗生素的衍生物 (利福平 ,利福定 ,利福喷丁 )的晶型与血 (尿 )药浓度的关系。方法 :通过正常人空腹口服各不同型晶粉 ,定时收集血、尿标本 ,用杯碟法测定血、尿药含量。结果 :同一药物的不同晶型粉 ,显示出各自不同的结构图形、溶解度及生物有效度的特性。结论 :凡是稳定的晶型均具恒定的结构及生物有效度。利福霉素类药物的含水量 ,对其晶型的稳定性至关重要。干燥失重 ,不是越低越好。 展开更多
关键词 利福霉素衍生物 利福平 利福定 利福喷丁 安莎环桥 x-粉末衍射谱 血药浓度 尿药浓度
下载PDF
H_2Pc-VOPc二元体系的制备和表征 被引量:1
8
作者 周金渭 王艳乔 任德元 《感光科学与光化学》 EI CSCD 1998年第3期269-273,共5页
八十年代,国外Canon,IBM,HP,Ricoh,Xerox等公司开发出由计算机控制、数字扫描、激光成像的高分辨激光打印机,并逐渐占领市场.这种激光打印机具有印刷质量高、寿命长、印刷速度快、版面可任意调制、噪音小等... 八十年代,国外Canon,IBM,HP,Ricoh,Xerox等公司开发出由计算机控制、数字扫描、激光成像的高分辨激光打印机,并逐渐占领市场.这种激光打印机具有印刷质量高、寿命长、印刷速度快、版面可任意调制、噪音小等特点.激光打印机的核心器件是有机光... 展开更多
关键词 酞菁氧钒 二元混晶 有机光导材料 OPC材料
下载PDF
TREOR多晶X射线衍射图指标化程序的适用性 被引量:1
9
作者 郭常霖 黄月鸿 沈鹤年 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第6期660-665,共6页
多晶X射线衍射图指标化的TREOR程序已被普遍采用,特别是在硅酸盐矿物等材料的晶体结构研究工作中应用很多。然而,实际上它存在着一定的缺陷,有可能得出错误的结果。本文对这一程序作了详细的检验,发现即使在理想条件下它都不... 多晶X射线衍射图指标化的TREOR程序已被普遍采用,特别是在硅酸盐矿物等材料的晶体结构研究工作中应用很多。然而,实际上它存在着一定的缺陷,有可能得出错误的结果。本文对这一程序作了详细的检验,发现即使在理想条件下它都不适用于低对称晶系的指标化。在对程序作改进以后。 展开更多
关键词 x射线 衍射图 指标化 误差程序 晶体结构
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部