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WN_x/n-GaAs肖特基势垒特性 被引量:1
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作者 张利春 高玉芝 +3 位作者 宁宝俊 方克微 汪锁发 柴淑敏 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第7期556-560,共5页
本文用俄歇能谱、卢瑟福背散射、电流-电压和电容-电压等方法研究了射频磁控反应溅射制备的WN_x/n-GaAs肖特基势垒特性。结果表明,经800℃快速热退火后,WN_x/n-GaAs势垒具有良好的整流特性和高温稳定性,其势垒高度为0.79ev,理想因子为1... 本文用俄歇能谱、卢瑟福背散射、电流-电压和电容-电压等方法研究了射频磁控反应溅射制备的WN_x/n-GaAs肖特基势垒特性。结果表明,经800℃快速热退火后,WN_x/n-GaAs势垒具有良好的整流特性和高温稳定性,其势垒高度为0.79ev,理想因子为1.19。在自对准GaAs MESFET工艺中,WN_x是一种好的栅材料。 展开更多
关键词 氮化钨 砷化镓 肖特基势垒 溅射
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反应溅射氮化钨薄膜特性研究 被引量:1
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作者 张利春 高玉芝 +2 位作者 宁宝俊 夏宗璜 赖初喜 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第5期348-354,共7页
本文采用两种溅射系统:射频磁控溅射系统和S枪溅射系统淀积了氮化钨薄膜。X射线衍射方法(XRD)、俄歇电子谱(AES)和电学测量等方法用来分析了氮化钨薄膜的组分、晶体结构和薄膜的电阻率。并研究了氮在氮、氩混合气体中的不同流量比对氮... 本文采用两种溅射系统:射频磁控溅射系统和S枪溅射系统淀积了氮化钨薄膜。X射线衍射方法(XRD)、俄歇电子谱(AES)和电学测量等方法用来分析了氮化钨薄膜的组分、晶体结构和薄膜的电阻率。并研究了氮在氮、氩混合气体中的不同流量比对氮化钨薄膜特性的影响。用卢瑟福背散射(RBS)方法对比研究了纯钨薄膜和氮化钨薄膜在Al/W/Si和Al/WN_x/Si两种金属化系统中的扩散势垒特性。分析结果表明,Al/W/Si金属化系统经500℃、30分钟热退火后,出现了明显的互扩散现象;而Al/WN_x/Si金属化系统在550℃、30分钟热退火后,没有发现互扩散的迹象,说明氮化钨在硅集成电路中是一种有效的扩散势垒材料。 展开更多
关键词 溅射 淀积 氮休钨薄膜 扩散势垒
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Dependence of Nitrogen/Argon Reaction Gas Amount on Structural,Mechanical and Optical Properties of Thin WNx Films
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作者 Somayeh Asgary Amir Hoshang Ramezani 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2017年第12期56-60,共5页
WNxfilms are deposited by reactive chemical vapor deposition at different amounts of nitrogen in gas mixtures.Experimental data demonstrate that nitrogen amount has a strong effect on microstructure, phase formation,t... WNxfilms are deposited by reactive chemical vapor deposition at different amounts of nitrogen in gas mixtures.Experimental data demonstrate that nitrogen amount has a strong effect on microstructure, phase formation,texture morphology, mechanical and optical properties of the WNxfilms. With increasing nitrogen a phase transition from a single WNxphase with low crystallinity structure to a well-mixed crystallized hexagonal WNxand face-centered-cubic W2N phases appears. Relatively smooth morphology at lower N2concentration changes to a really smooth morphology and then granular with coarse surface at higher N2concentration. The SEM observation clearly shows a columnar structure at lower N2concentration and a dense nanoplates one for higher nitrogen content. The hardness of WNxthin films mainly depends on the film microstructure. The absorbance peak position shifts to shorter wavelength continuously with increasing nitrogen amount and decreasing particle size. 展开更多
关键词 SEM Mechanical and Optical Properties of Thin wn_x Films Dependence of Nitrogen/Argon Reaction Gas Amount on Structural
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