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电感耦合等离子体质谱法测定高纯金中痕量杂质 被引量:28
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作者 刘湘生 张安定 +1 位作者 刘玉龙 鲁毅强 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2000年第3期322-325,共4页
建立了高纯金中40余种痕量杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法。方法检出限为0.0006~0.21μg/L。考察了基体Au的谱干扰及基体效应,采用Cs内标补偿基体对待测信号的抑制作用。方法简单、快速、灵敏、准确。
关键词 高纯金 痕量杂质 内标 ICP-MS法
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电感耦合等离子体质谱法测定二氧化铀和八氧化三铀粉末中的杂质元素 被引量:17
2
作者 郭冬发 武朝辉 +2 位作者 黄秋红 裴玲云 李振涛 《铀矿地质》 CAS CSCD 1999年第3期177-180,共4页
本文简述了等离子体质谱法测定二氧化铀和八氧化三铀粉末中的硼、钛、钒、钼、铬、锌、镉等7个痕量元素的方法。本方法采用TBP萃取色层分离铀基体后,用高分辨等离子体质谱仪(ICP-MS)测定多个痕量元素,测定下限达1×... 本文简述了等离子体质谱法测定二氧化铀和八氧化三铀粉末中的硼、钛、钒、钼、铬、锌、镉等7个痕量元素的方法。本方法采用TBP萃取色层分离铀基体后,用高分辨等离子体质谱仪(ICP-MS)测定多个痕量元素,测定下限达1×10-9g/g,测定的相对标准偏差小于15%。核工业14个实验室比对试验结果表明。 展开更多
关键词 等子体质谱法 杂质元素 铀粉末
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化钽中28种痕量杂质元素 被引量:17
3
作者 郭鹏 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2008年第3期106-109,共4页
建立了用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定高纯氧化钽中28种痕量杂质元素的方法。讨论了质谱干扰及接口效应,采用标准加入法消除基体效应。各元素的方法检出限为0.001-0.1μg/g,回收率为90%-115%,方法适用于纯度为99.999%的高纯氧... 建立了用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定高纯氧化钽中28种痕量杂质元素的方法。讨论了质谱干扰及接口效应,采用标准加入法消除基体效应。各元素的方法检出限为0.001-0.1μg/g,回收率为90%-115%,方法适用于纯度为99.999%的高纯氧化钽中痕量杂质元素的测定。 展开更多
关键词 ICP-MS 氧化钽 痕量杂质
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯铼中26种痕量杂质元素 被引量:19
4
作者 李继东 王长华 郑永章 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2011年第8期39-43,共5页
以电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定了高纯铼中26种杂质元素含量。应用反应池技术消除了复合离子对K、Ca、Fe等元素的干扰,采用干扰方程校正技术消除了Re氧化物对Tl的质谱重叠干扰,未受干扰的其它杂质元素采用内标校正法直接测定。... 以电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定了高纯铼中26种杂质元素含量。应用反应池技术消除了复合离子对K、Ca、Fe等元素的干扰,采用干扰方程校正技术消除了Re氧化物对Tl的质谱重叠干扰,未受干扰的其它杂质元素采用内标校正法直接测定。考察了溶液酸度、基体效应等条件对测定的影响,优化选择了测定同位素和内标元素。方法测定下限介于0.12~5.0μg/g,加标回收率在90%~110%之间,相对标准偏差小于10%。方法可以满足4N5高纯铼的测定。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱法 反应池技术 高纯铼 杂质元素
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯钼中12种杂质元素 被引量:17
5
作者 王长华 李继东 潘元海 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2011年第7期18-21,共4页
采用反应池技术消除了复合离子对Ca、Fe和Si等元素的干扰,以内标校正法直接测定了其它9种元素。优化选择了测定同位素和内标元素,考察了基体效应对测定结果的影响,建立了电感耦合等离子体质谱测定了高纯钼中12种杂质元素含量的方法。方... 采用反应池技术消除了复合离子对Ca、Fe和Si等元素的干扰,以内标校正法直接测定了其它9种元素。优化选择了测定同位素和内标元素,考察了基体效应对测定结果的影响,建立了电感耦合等离子体质谱测定了高纯钼中12种杂质元素含量的方法。方法测定下限介于0.10~0.37μg/g之间,加标回收率为93%~105%,RSD<10%。对钼粉和钼条两个实际样品进行了分析,测定结果表明,方法可满足4N~5N高纯钼产品的测定要求。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱法 反应池技术 高纯钼 杂质元素
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标准加入ICP-AES法测定铬酸钠中杂质元素 被引量:15
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作者 王立平 冯海涛 +4 位作者 董亚萍 彭姣玉 李武 史海琴 王勇 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第2期523-526,共4页
采用ICP-AES法同时测定工业铬酸钠溶液中微量Al,Ca,Fe,Mg,Si杂质元素。针对测定过程中存在的基体干扰、谱线干扰等问题,通过实验确定了铬酸钠中微量的Al,Ca,Fe,Mg,Si的分析测试谱线:Al 167.079nm,Ca 393.366nm,Fe 259.940nm,Mg 279.533... 采用ICP-AES法同时测定工业铬酸钠溶液中微量Al,Ca,Fe,Mg,Si杂质元素。针对测定过程中存在的基体干扰、谱线干扰等问题,通过实验确定了铬酸钠中微量的Al,Ca,Fe,Mg,Si的分析测试谱线:Al 167.079nm,Ca 393.366nm,Fe 259.940nm,Mg 279.533nm,Si 251.61nm。实验用优级纯HCl将待测溶液调为酸性,消除工业铬酸钠溶液酸度不稳定引起的测定误差,采用标准加入法消除基体干扰,探讨了Al,Ca,Fe,Mg,Si等五种微量组分检测方法标准曲线线性相关性、检出限、精密度以及回收率等分析指标,详细研究了在选定分析谱线下,标准加入法对铬酸钠溶液中Al,Ca,Fe,Mg,Si等微量杂质含量测定结果的准确性的影响。结果表明标准曲线呈线性关系(R2=0.998 8~0.999 6之间),五种元素检出限在(0.013 4~0.028 0)mg·L-1之间,11次测量标准偏差小于5.86%,回收率在97.30%~107.50%之间。实验建立的分析方法的检出限、精密度、准确度均能满足分析测试要求;方法实用性强,已经成功用于离子膜电解法中铬酸钠原料液微量离子检测;利用铬酸钠、重铬酸钠和重铬酸酐与溶液酸度的关系,实验建立的分析方法还可拓展于重铬酸钠及铬酐甚至其他六价铬产品中Al,Ca,Fe,Mg,Si杂质离子的检测,同时也可以扩展到上述样品中其他杂质元素的测定。 展开更多
关键词 铬酸钠 微量离子 ICP-AES 标准加入法
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯金属铋中痕量杂质元素 被引量:14
7
作者 易永 章新泉 +3 位作者 苏亚勤 姜玉梅 李翔 刘永林 《分析科学学报》 CAS CSCD 2005年第1期90-92,共3页
采用电感耦合等离子体质谱法测定了高纯金属铋中14种痕量杂质元素。考察了基体效应对测定元素的干扰影响,通过铋基体元素的分离和以Sc、In、Eu作为内标,有效克服了干扰现象。方法的检出限在0.1~4.7ng/mL;精密度在1.4%~5.0%;加标回收率... 采用电感耦合等离子体质谱法测定了高纯金属铋中14种痕量杂质元素。考察了基体效应对测定元素的干扰影响,通过铋基体元素的分离和以Sc、In、Eu作为内标,有效克服了干扰现象。方法的检出限在0.1~4.7ng/mL;精密度在1.4%~5.0%;加标回收率在89%~114%范围。本法可满足99.999%以上金属铋中痕量杂质测定的要求。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱 金属铋 痕量杂质
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高质量单晶金刚石的合成、结构与光学性能研究 被引量:14
8
作者 屠菊萍 刘金龙 +5 位作者 邵思武 朱肖华 赵云 陈良贤 魏俊俊 李成明 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第6期199-206,共8页
采用微波等离子体化学气相沉积法通过控制痕量杂质制备了高质量单晶金刚石材料,并对其结构与光学性能进行综合评价。通过紫外可见吸收光谱和光致发光谱分析了晶体的杂质及含量;采用拉曼光谱、摇摆曲线及X射线白光形貌束分析了不同质量... 采用微波等离子体化学气相沉积法通过控制痕量杂质制备了高质量单晶金刚石材料,并对其结构与光学性能进行综合评价。通过紫外可见吸收光谱和光致发光谱分析了晶体的杂质及含量;采用拉曼光谱、摇摆曲线及X射线白光形貌束分析了不同质量单晶体的晶体结构及结晶质量;通过偏光显微镜综合评价了不同质量单晶金刚石的晶体结构和缺陷。结果证明:获得的高纯单晶金刚石含有少量的缺陷、杂质,其位错应力场以聚集状均匀分布,高纯单晶金刚石与微掺氮单晶金刚石在紫外可见近红外波段的透过率最高可分别达到71.58%和71.27%,接近单晶金刚石的理论透过率(71.6%),且在本征红外吸收波段,高纯金刚石晶体相对微掺氮单晶金刚石,对称性较好,样品吸光度较小。控制痕量杂质制备的高质量单晶金刚石膜有望应用于光探测器探头和光学窗口。 展开更多
关键词 薄膜 高质量单晶金刚石 透过率 光学吸收系数 痕量杂质
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离子色谱-膜去溶-ICP-MS法测定高纯钨粉中痕量金属杂质 被引量:13
9
作者 李艳芬 刘英 童坚 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2009年第1期104-106,共3页
灵敏地检测了高纯钨粉中的痕量金属杂质。钨粉用H_2O_2溶解后进入离子色谱的阳离子交换柱,经水淋洗后,用HNO_3洗脱,洗脱后的溶液经过膜去溶装置雾化去溶后进入电感耦合等离子体质谱检测。除B,V,Sb外,其它杂质元素如Mg,Al,Ti,Cr,Be,Fe,Mn... 灵敏地检测了高纯钨粉中的痕量金属杂质。钨粉用H_2O_2溶解后进入离子色谱的阳离子交换柱,经水淋洗后,用HNO_3洗脱,洗脱后的溶液经过膜去溶装置雾化去溶后进入电感耦合等离子体质谱检测。除B,V,Sb外,其它杂质元素如Mg,Al,Ti,Cr,Be,Fe,Mn,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Sr,Cd,Ba等的回收率均在90%~107%之间,检出限在0.001~0.5μg/g之间。 展开更多
关键词 痕量元素 高纯钨粉 离子色谱 阳离子交换柱 膜去溶装置 电感耦合等离子体质谱
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中15种痕量杂质元素 被引量:13
10
作者 王长华 李继东 潘元海 《质谱学报》 EI CAS CSCD 2011年第4期216-221,共6页
采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯钨中杂质元素含量;应用H2反应池技术消除复合离子对K、Ca、Fe和Si等元素的干扰;考察了溶液酸度、基体效应等条件对测定结果的影响;以内标校正法补偿基体效应,优化选择了测定同位素和内标元素... 采用电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯钨中杂质元素含量;应用H2反应池技术消除复合离子对K、Ca、Fe和Si等元素的干扰;考察了溶液酸度、基体效应等条件对测定结果的影响;以内标校正法补偿基体效应,优化选择了测定同位素和内标元素,最终建立高纯钨中15种杂质元素含量的测定方法。方法测定下限介于0.12~0.50μg/g,加标回收率在96.1%~110.6%之间,相对标准偏差小于8%。采用该方法测定高纯钨条和钨粉两种实际样品,可以满足4N^5N高纯钨的测定。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS) 反应池技术 高纯钨 杂质元素
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氢燃料电池用氢气中14种痕量杂质分析技术综述 被引量:13
11
作者 凌凤香 韩博 《炼油技术与工程》 CAS 2021年第1期1-5,共5页
氢燃料电池用氢气纯度、所含杂质的种类及含量对氢燃料电池的放电性能和寿命具有重要影响。详细阐述氢燃料电池用氢气中总硫、氨、总卤化物、甲醛、甲酸、一氧化碳、二氧化碳、总烃、氧、氮、氦、氩、水、颗粒物14种痕量杂质对燃料电池... 氢燃料电池用氢气纯度、所含杂质的种类及含量对氢燃料电池的放电性能和寿命具有重要影响。详细阐述氢燃料电池用氢气中总硫、氨、总卤化物、甲醛、甲酸、一氧化碳、二氧化碳、总烃、氧、氮、氦、氩、水、颗粒物14种痕量杂质对燃料电池性能影响,以及离线和在线分析技术的现状、研究进展,配备硫化学发光等检测器的气相色谱技术和傅里叶变换红外光谱技术在多项杂质检测方面的应用,最后对分析技术的发展进行了展望。 展开更多
关键词 氢燃料电池 氢气 痕量杂质 分析技术
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Quantification of trace amounts of impurities in high purity cobalt by high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry 被引量:10
12
作者 XIE Hualin HUANG Kelong +1 位作者 NIE Xidu TANG Yougen 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 2007年第3期286-291,共6页
A An analytical method using high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry (HR-ICP-MS) for rapid simultaneous determination of 24 elements (Be, Mg, A1, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, ... A An analytical method using high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry (HR-ICP-MS) for rapid simultaneous determination of 24 elements (Be, Mg, A1, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Mo, Ag, Cd, Sn Sb, Ba, Pt, Au, and Pb) in high purity cobalt was described. Sample digestions were performed in closed microwave vessels using HNO3 and HCI. The matrix effects because of the presence of excess HCI and Co were evaluated. The usefulness of high mass resolution for overcoming some spectral interference was demonstrated. The optimum conditions for the determination were tested and discussed. The standard addition method was employed for quantitative analysis. The detection limits were 0.016-1.50 ].tg·g^-1, the recovery ratios were 92.2%-111.2%, and the RSD was less than 3.6%. The method was accurate, quick, and convenient. It was applied to the determination of trace impurities in high purity cobalt with satisfactory results. 展开更多
关键词 high resolution inductively coupled plasma mass spectrometry high purity cobalt trace impurities matrix effect standard addition method
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二氧化钛中杂质元素ICP-MS法测定的研究 被引量:8
13
作者 黄冬根 廖世军 +4 位作者 章新泉 刘晶磊 童迎东 姜玉梅 易永 《分析科学学报》 CAS CSCD 2005年第4期423-425,共3页
本文报道了用电感耦合等离子质谱(ICP-MS)测定二氧化钛中18种杂质元素的方法.样品用浓硫酸及固体硫酸铵溶解至清亮后,加入内标元素45Sc、115In、205Tl,用内标法直接测定.讨论了二氧化钛的基体效应及钛产生的质谱干扰对测定结果的影响.... 本文报道了用电感耦合等离子质谱(ICP-MS)测定二氧化钛中18种杂质元素的方法.样品用浓硫酸及固体硫酸铵溶解至清亮后,加入内标元素45Sc、115In、205Tl,用内标法直接测定.讨论了二氧化钛的基体效应及钛产生的质谱干扰对测定结果的影响.方法的检出限是0.03~12.0 ng/mL,相对标准偏差是1.4~12.5%,加标回收率是92.0%~103%.该法具有简便、快速、灵敏、准确等优点. 展开更多
关键词 ICP-MS 二氧化钛 杂质元素
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高分辨等离子体质谱法测定高纯二氧化钛中痕量杂质 被引量:10
14
作者 何晓梅 谢华林 +1 位作者 聂西度 唐有根 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2007年第6期1192-1196,共5页
采用高分辨电感耦合等离子体质谱(HR-ICP-MS)法同时测定高纯二氧化钛中26种杂质元素。样品用硫酸铵和浓硫酸分解后,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰。详细地研究了高浓度钛和硫酸的基体效应,讨论和确定了实验的最佳测定条件... 采用高分辨电感耦合等离子体质谱(HR-ICP-MS)法同时测定高纯二氧化钛中26种杂质元素。样品用硫酸铵和浓硫酸分解后,在高分辨质谱测量模式下避免了大量的质谱干扰。详细地研究了高浓度钛和硫酸的基体效应,讨论和确定了实验的最佳测定条件,应用标准加入法进行定量分析。结果表明,方法的检出限为0·004~0·63μg·g-1,回收率为87·6%~106·4%,相对标准偏差(RSD)小于3·5%。方法准确、快速、简便,应用于高纯二氧化钛中杂质元素的测定,满意结果。 展开更多
关键词 高分辨电感耦合等离子体质谱 高纯二氧化钛 杂质元素 基体效应 标准加入法
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四氟化碳中痕量气体杂质的气相色谱分析 被引量:9
15
作者 付梦月 黄晓磊 +2 位作者 周宪峰 许福胜 张景利 《化学推进剂与高分子材料》 CAS 2014年第1期93-96,共4页
采用配有放电离子化检测器的气相色谱仪分析高纯四氟化碳中痕量气体杂质。研究了分析四氟化碳中氧气、氮气、一氧化碳、二氧化碳和六氟化硫等气体杂质的操作参数,确定了高纯四氟化碳中痕量气体杂质的分析方法。
关键词 四氟化碳 放电离子化检测器 气相色谱 痕量杂质 分析
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ICP-MS法测定高纯铂中18个痕量杂质元素 被引量:9
16
作者 李光俐 何姣 +5 位作者 周世平 方海燕 朱武勋 孙祺 方卫 王应进 《贵金属》 CAS CSCD 北大核心 2015年第3期60-66,共7页
试样用盐酸-硝酸溶解,采用反应池技术消除复合离子对Cr、Si元素的干扰,Pt对Au元素影响采用反应池技术与等效法扣除,以内标校正法直接测定其它15个元素。优化选择了测定同位素和内标元素,考察了基体效应对测定结果的影响,建立了电感耦合... 试样用盐酸-硝酸溶解,采用反应池技术消除复合离子对Cr、Si元素的干扰,Pt对Au元素影响采用反应池技术与等效法扣除,以内标校正法直接测定其它15个元素。优化选择了测定同位素和内标元素,考察了基体效应对测定结果的影响,建立了电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)法测定高纯铂中18个痕量杂质元素含量的方法。被测元素的检出限为0.0031-1.16 ng/mL,样品的加标回收率在85.7%-119.8%之间,相对标准偏差(RSD)为1.76%-4.50%。方法可以满足4-5 N高纯铂产品的测定要求。 展开更多
关键词 分析化学 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) 反应池技术 高纯铂 痕量杂质元素
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯镓中痕量杂质 被引量:8
17
作者 岳晓云 蔡绍勤 +2 位作者 邵荣珍 刘玉龙 鲁亦强 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期1307-1310,共4页
采用电感耦合等离子体质谱 (ICP MS)测定高纯镓中痕量杂质元素 ,以Rh作为内标补偿校正镓基体的抑制效应 ,采用异丙醚萃取分离镓与ICP MS技术联用 ,拓展分析方法应用范围 ,可满足99 9999%~ 99.99999%超高纯镓分析方法要求。方法检出限为... 采用电感耦合等离子体质谱 (ICP MS)测定高纯镓中痕量杂质元素 ,以Rh作为内标补偿校正镓基体的抑制效应 ,采用异丙醚萃取分离镓与ICP MS技术联用 ,拓展分析方法应用范围 ,可满足99 9999%~ 99.99999%超高纯镓分析方法要求。方法检出限为 0 .0 0 6~ 0 .0 6 2 μg L ;加标回收率为86 8%~ 12 1.4%之间 ;RSD为 1.1%~ 8.6 % 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱 高纯镓 杂质 基体效应 内标 溶剂萃取 痕量分析 半导体材料
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ICP-MS法测定高纯钯中18个痕量杂质元素 被引量:8
18
作者 李秋莹 甘建壮 +5 位作者 李立新 方卫 何姣 方海燕 孙祺 王应进 《贵金属》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期49-55,共7页
以混合酸(盐酸-硝酸)溶解高纯钯样品,建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钯中18个杂质元素的方法。确定了最佳测定条件为:采用普通模式测定Pt、Rh、Ir、Ru、Au、Ag、Cu、Fe、Zn、Ni、Mn、Mg、Al、Sn和Pb,氨气反应模式测定Si... 以混合酸(盐酸-硝酸)溶解高纯钯样品,建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钯中18个杂质元素的方法。确定了最佳测定条件为:采用普通模式测定Pt、Rh、Ir、Ru、Au、Ag、Cu、Fe、Zn、Ni、Mn、Mg、Al、Sn和Pb,氨气反应模式测定Si、Fe和Cr(氨气流速分别为0.2、0.3和0.7 mL/min);采用内标校正提高分析的准确性,其中Mg、Al、Zn、Ni、Mn、Cu、Ag、Rh、Ru和Si以Sc为内标,Fe以Y为内标,Sn、Cr和Pb以In为内标,Ir、Au、Bi、Pt以Re为内标。测定各元素的线性相关系数(r)不小于0.9997,方法检出限为0.0061~0.85 ng/mL。对高纯钯样品中18个杂质元素进行测定,相对标准偏差(RSD)为1.38%~6.11%,加标回收率86.2%~118.8%,可满足4N^5N高纯钯产品的测定要求。 展开更多
关键词 分析化学 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) 反应池技术(DRC) 高纯钯 痕量杂质
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电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中26种痕量杂质元素 被引量:8
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作者 张颖 熊静 《硬质合金》 CAS 2014年第5期309-314,共6页
采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钨中26种痕量杂质元素,讨论了溶样方式,研究了质谱干扰和钨基体效应,应用屏蔽炬技术消除56Ar O+等多原子离子对Fe、Ca、K等元素的干扰,采用在线样品标准加入法消除基体效应。各元素的方... 采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钨中26种痕量杂质元素,讨论了溶样方式,研究了质谱干扰和钨基体效应,应用屏蔽炬技术消除56Ar O+等多原子离子对Fe、Ca、K等元素的干扰,采用在线样品标准加入法消除基体效应。各元素的方法检出限(15σ)为0.03~0.45μg/g,对样品加标0.5μg/g的回收率在88%~116%之间。方法适用于纯度为99.999%的高纯钨中痕量杂质元素的测定。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱 高纯钨 痕量杂质
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ICP-AES法测定氧化铟-氧化锡(ITO)超细复合粉末中的痕量杂质 被引量:7
20
作者 孙洪涛 王晓艳 邓培 《宁夏工程技术》 CAS 2003年第3期232-234,共3页
建立了超细In2O3-SnO2(ITO)复合粉末中Al,Ca,Cd,Co,Cr,Cu,Fe,Mg,Mn,Mo,Ni,Ti,V,Zn,Zr等15种杂质元素的ICP-AES测定方法.研究了基体对被测元素的干扰,选择了仪器最佳工作参数.方法的回收率为92%~110%,相对标准偏差为0.26%~3.66%.
关键词 ICP-AES法 测定 氧化铟-氧化锡 超细粉末 复合粉末 痕量杂质 等离子体-原子发射光谱法
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