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新型超光滑表面粗糙度测量系统
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作者 伍凡 P.D.Chapman 《光电工程》 CAS CSCD 1993年第2期57-61,共5页
本文介绍了一种新型的测量超光滑表面粗糙度的共光路偏振干涉系统。该系统以双折射透镜作为分光元件;采用偏振干涉方法和偏振接收方法对被测光学表面高度变化,实现高灵敏度、非接触探测,垂直分辨率为0.1nm。给出了系统结构,叙述了测量... 本文介绍了一种新型的测量超光滑表面粗糙度的共光路偏振干涉系统。该系统以双折射透镜作为分光元件;采用偏振干涉方法和偏振接收方法对被测光学表面高度变化,实现高灵敏度、非接触探测,垂直分辨率为0.1nm。给出了系统结构,叙述了测量原理。 展开更多
关键词 光洁度测量仪器 共光路干涉仪 偏振干涉术 非接触测量
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