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一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
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作者 冯建华 孙义和 李树国 《清华大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第1期140-143,共4页
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和... 鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和从原始输入端传播标记集可识别重汇聚扇出门,然后采用反向蕴含过程计算重汇聚门基本矢量的概率值,进行重汇聚扇出点的评价。实验结果表明这种算法可获得较精确的可测试性分析结果。 展开更多
关键词 桥接故障 IDDQ可测试性分析算法 超大规模集成电路 重汇聚扇出 反向蕴含 基本矢量集 电路测试
原文传递
功能块级电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题
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作者 魏道政 《电子测量与仪器学报》 CSCD 1994年第3期1-9,共9页
本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题,包括功能快的描述,故障模型,故障效应的传播,扇出重汇聚,功能块划分成单元,整个电路划分成锥体,锥体中的截面等问题,其中有些概念是门级电路中类似概念在... 本文讨论以功能块为单位的数字电路测试产生与故障模拟中的一些基本问题,包括功能快的描述,故障模型,故障效应的传播,扇出重汇聚,功能块划分成单元,整个电路划分成锥体,锥体中的截面等问题,其中有些概念是门级电路中类似概念在功能块级电路中的推广。 展开更多
关键词 功能块级 故障 电路测试 故障模拟
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SCTM:一种基于信号冲突的可测性测度
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作者 向东 《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1993年第4期273-280,共8页
本文提出了一种基于信号冲突的可测试性测度SCTM.该测度主要针对SCOAP对扇出重汇聚等问题处理所存在的缺陷,着重考虑了扇出重汇聚在测试过程中可能导致的信号冲突.
关键词 可控性 可靠性 可测试性 测度
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一种改进的组合电路信号概率加权平均算法
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作者 樊勇 向东 魏道政 《电子测量与仪器学报》 CSCD 1995年第1期33-37,共5页
本文提出了一种改进的加权平均算法IWAA,针对加权平均算法WAA,IWAA引入了最小重汇聚扇出源MRFS的概念,用于信号概率的计算,并取得了较为理想的结果。
关键词 信号概率 可测性分析 加权平衡 组合电路
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