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基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析
被引量：
2
1
作者
乔倩
《集成电路应用》
2023年第7期46-47,共2页
阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。
关键词
集成电路测试
lk
8820
测试平台
环境适应性
下载PDF
职称材料
题名
基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析
被引量：
2
1
作者
乔倩
机构
山西工程职业学院
出处
《集成电路应用》
2023年第7期46-47,共2页
基金
2022年度山西省高等学校科技创新项目(2022L710)。
文摘
阐述DAC0832芯片在LK8820测试平台的测试方法,采用测试电路和专用函数完成对该芯片的电参数环境适应性的测试,从而为提高芯片测试效率提供技术支持。
关键词
集成电路测试
lk
8820
测试平台
环境适应性
Keywords
integrated
circuit
test
ing
lk
8820
test
platform
environmental
adaptability
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
基于LK8820平台的DAC0832芯片电参数环境适应性测试方法分析
乔倩
《集成电路应用》
2023
2
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职称材料
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