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事件相关电位在颅脑外伤后智能损害评估中的应用 被引量：8
1
作者 陈素玲 黄子夜 +3 位作者 贾碎林 陈小帆 陈亚林 陈兴时 《中华行为医学与脑科学杂志》 CAS CSCD 北大核心 2018年第8期749-752,共4页
目的 探讨事件相关电位（ERP）在颅脑外伤后智能损害评估中的应用.方法 选取60例颅脑外伤后智能损害患者作为病例组,同时选取60例健康的受试者作为正常对照组,应用脑电生理仪记录并比较两组的P300和P50的差异.结果 患者组P300[（440.430... 目的 探讨事件相关电位（ERP）在颅脑外伤后智能损害评估中的应用.方法 选取60例颅脑外伤后智能损害患者作为病例组,同时选取60例健康的受试者作为正常对照组,应用脑电生理仪记录并比较两组的P300和P50的差异.结果 患者组P300[（440.430±77.367） ms]较对照组[（342.928 ± 36.175） ms]潜伏期显著延长（P＜0.01）、波幅降低[患者组（12.692±8.152） μV,对照组（18.138 ±6.590） μV,P＜0.01].患者组S2-P50波幅明显高于对照组[患者组（3.75±1.59） μV,对照组（2.42 ± 1.43） μV,P＜0.01],S2-P50波幅/SI-P50波幅的比值明显大于对照组[患者组：（0.78±0.54）,对照组：（0.46±0.18）,P＜0.01].患者P300潜伏期和波幅与WAIS-RC总智商分呈显著相关（r=-0.31,P＜0.01;r=0.17,P＜0.01）;S2-P50的波幅和S2-P50波幅与SI-P50波幅的比值均与WAIS-RC总智商分显著呈负相关（r=-0.33,P＜0.01;r=-0.45,P＜0.01）.结论 ERP的P300和P50成分可为颅脑外伤后智能损害的司法鉴定提供参考. 展开更多
关键词 事件相关电位 颅脑外伤 智能损害 司法鉴定
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