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激光硬化基体对镀铬层组织和结合的影响 被引量:23
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作者 徐向阳 张坤 +1 位作者 陈光南 罗耕星 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第3期413-416,共4页
采用激光相变硬化的方法在电镀前对基体表层预先进行处理,以改善镀层与基体的结合强度,提高其承载能力。借助扫描电镜(SEM)分析镀铬层的组织和界面,对镀层、相变硬化区和基体的硬度变化进行分析,对镀层抗高温烧蚀能力进行测试。结果表明... 采用激光相变硬化的方法在电镀前对基体表层预先进行处理,以改善镀层与基体的结合强度,提高其承载能力。借助扫描电镜(SEM)分析镀铬层的组织和界面,对镀层、相变硬化区和基体的硬度变化进行分析,对镀层抗高温烧蚀能力进行测试。结果表明,基体经激光相变硬化处理后,既可以促进镀层外延生长,又可以在镀层和基体之间实现硬度的梯度过渡,从而可以改善结合,缓解应力,提高承载能力,镀层的抗剥落能力和使用寿命得到显著提高。激光相变硬化得到细小的淬火马氏体,位错密度显著增加,表面活性增强,是促进镀层外延生长的主要原因。 展开更多
关键词 激光技术 激光硬化 电镀 外延生长 界面 结合
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GaN基材料半导体激光器综述 被引量:10
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作者 郎佳红 顾彪 +1 位作者 徐茵 秦福文 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期321-324,327,共5页
叙述了激光器材料的发展 ,回顾了GaN薄膜制备的几个技术进展 ,总结了GaN基材料激光器 (LDs)的发展历程。
关键词 GAN 半导体激光器 MOCVD 外延生长
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PZT薄膜的研究进展 被引量:7
3
作者 陈菊芳 刘常升 +2 位作者 陈岁元 张滨 尚丽娟 《材料与冶金学报》 CAS 2002年第2期83-86,135,共5页
综述了PZT薄膜的制备方法 ,从电极、微观结构和化学成分、生长方向、多层膜结构以及机械应力对性能的影响五个方面介绍了PZT薄膜的研究进展 .
关键词 研究进展 压电性 钙钛矿结构 热电性 烧绿石 外延生长 PZT薄膜 压电陶瓷
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GaN基材料生长及其在光电器件领域的应用 被引量:10
4
作者 王三胜 顾彪 +2 位作者 徐茵 秦福文 杨大智 《电子器件》 CAS 2002年第1期1-8,共8页
Ga N具有禁带宽、热导率高、电子饱和漂移速度大和介电常数小等特点 ,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。本文介绍了 Ga N基半导体材料的制备方法 ,异... Ga N具有禁带宽、热导率高、电子饱和漂移速度大和介电常数小等特点 ,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。本文介绍了 Ga N基半导体材料的制备方法 ,异质结构以及在光电子和微电子器件领域的应用 。 展开更多
关键词 外延生长 基材 氮化镓 光电器件
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Application of halide vapor phase epitaxy for the growth of ultrawide band gap Ga_2O_3 被引量:7
5
作者 Xiangqian Xiu Liying Zhang +3 位作者 Yuewen Li Zening Xiong Rong Zhang Youdou Zheng 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2019年第1期57-62,共6页
Halide vapor phase epitaxy(HVPE) is widely used in the semiconductor industry for the growth of Si, GaAs, GaN, etc.HVPE is a non-organic chemical vapor deposition(CVD) technique, characterized by high quality growth o... Halide vapor phase epitaxy(HVPE) is widely used in the semiconductor industry for the growth of Si, GaAs, GaN, etc.HVPE is a non-organic chemical vapor deposition(CVD) technique, characterized by high quality growth of epitaxial layers with fast growth rate, which is versatile for the fabrication of both substrates and devices with wide applications. In this paper, we review the usage of HVPE for the growth and device applications of Ga_2O_3, with detailed discussions on a variety of technological aspects of HVPE. It is concluded that HVPE is a promising candidate for the epitaxy of large-area Ga_2O_3 substrates and for the fabrication of high power β-Ga_2O_3 devices. 展开更多
关键词 HALIDE vapor phase epitaxy GA2O3 SCHOTTKY barrier DIODES epitaxy growth
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GaN基材料及其在短波光电器件领域的应用 被引量:2
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作者 顾彪 王三胜 +5 位作者 徐茵 秦福文 窦宝锋 常久伟 邓祥 杨大智 《高技术通讯》 EI CAS CSCD 2002年第3期104-110,共7页
GaN具有禁带宽度大、热导率高、电子饱和漂移速度大、临界击穿电压高和介电常数小等特点 ,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。本文介绍了GaN基半导体材... GaN具有禁带宽度大、热导率高、电子饱和漂移速度大、临界击穿电压高和介电常数小等特点 ,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。本文介绍了GaN基半导体材料的各种特性、材料生长以及在光电器件领域的应用 。 展开更多
关键词 GAN 材料性质 外延生长 半导体器件 半导体材料 短波光电器件 氮化镓
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GaN基材料生长及其在光电器件领域的应用 被引量:4
7
作者 王三胜 顾彪 +3 位作者 徐茵 秦福文 窦宝锋 杨大智 《材料导报》 EI CAS CSCD 2002年第1期31-35,共5页
GaN具有禁带宽度大、热导率高、电子饱和漂移速度大和介电常数小等特点,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。介绍了GaN基半导体材料的制备方法,异质结构... GaN具有禁带宽度大、热导率高、电子饱和漂移速度大和介电常数小等特点,在高亮度发光二极管、短波长激光二极管、高性能紫外探测器和高温、高频、大功率半导体器件等领域有着广泛的应用前景。介绍了GaN基半导体材料的制备方法,异质结构以及在光电子和微电子器件领域的应用,并讨论了今后的发展趋势。 展开更多
关键词 GAN 外延生长 掺杂 半导体器件 光电器件 半导体材料 制备 氮化镓
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掺锑二氧化锡薄膜的喷雾热解法制备与热处理 被引量:4
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作者 肖功利 杨宏艳 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第3期357-360,364,共5页
以SnCl4·5H2O和SbCl3为原料,采用喷雾热解法在玻璃基片上制备了掺锑二氧化锡(SnO2:Sb)透明导电薄膜。用X光电子能谱分析仪(XPS)、X射线衍射仪(XRD)和紫外一可见光吸收谱仪分别对样品进行了表征,且对其结构、电学和光学特... 以SnCl4·5H2O和SbCl3为原料,采用喷雾热解法在玻璃基片上制备了掺锑二氧化锡(SnO2:Sb)透明导电薄膜。用X光电子能谱分析仪(XPS)、X射线衍射仪(XRD)和紫外一可见光吸收谱仪分别对样品进行了表征,且对其结构、电学和光学特性作了研究。实验结果表明:薄膜仍为金红石型结构,在Sb的掺杂量为(1.0~1.5)wt%(质量百分比)和基片温度为500℃时,薄膜方阻为0.8~3.5Ω/□,可见光透过率达80%,红外光反射率达到80%。样品在O2,N2中进行热处理,其电导率呈有规律的变化趋势,热处理温度为550℃时,两种样品的电导率变化曲线上同时出现拐点。 展开更多
关键词 SnO2:Sb薄膜 喷雾热解法 外延生长 光电特性 热处理
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AlGaN基宽禁带半导体光电材料与器件 被引量:3
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作者 贲建伟 孙晓娟 +6 位作者 蒋科 陈洋 石芝铭 臧行 张山丽 黎大兵 吕威 《人工晶体学报》 EI CAS 北大核心 2020年第11期2046-2067,共22页
AlGaN基材料是带隙可调的直接带隙宽禁带半导体材料,是制备紫外(UV)光电子器件的理想材料。经过数十年的研究,目前已经在异质衬底外延生长AlGaN基材料、高效掺杂等方面取得了巨大进展。以此为基础,AlGaN基紫外光电器件制备领域也得到长... AlGaN基材料是带隙可调的直接带隙宽禁带半导体材料,是制备紫外(UV)光电子器件的理想材料。经过数十年的研究,目前已经在异质衬底外延生长AlGaN基材料、高效掺杂等方面取得了巨大进展。以此为基础,AlGaN基紫外光电器件制备领域也得到长足发展。在本综述中,主要介绍了高质量AlGaN基材料的MOCVD外延生长方法、掺杂方法以及近年来在紫外发光、紫外探测器件方面取得的进展。 展开更多
关键词 AlGaN基材料 外延生长 掺杂 紫外发光器件 紫外探测
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Growth of Ⅲ-Ⅴ semiconductor nanowires and their heterostructures 被引量:1
10
作者 李昂 邹进 韩晓东 《Science China Materials》 SCIE EI CSCD 2016年第1期51-91,共41页
In this paper, we present a review about recent progress on the growth of III-V semiconductor homo- and heterostructured nanowires. We will first deliver a general discussion on the crystal structure and the conventio... In this paper, we present a review about recent progress on the growth of III-V semiconductor homo- and heterostructured nanowires. We will first deliver a general discussion on the crystal structure and the conventional growth mechanism of one dimensional nanowires. Then we provide a review about most widely used growth techniques, sample preparation and the cutting edge characterization techniques including advanced electron microscopy, in situ electron diffraction, micro-Raman spectroscopy, and atom probe tomography. In the end, the growth of different heteostructured III-V semiconductor nanowires will be reviewed. We will focus on the morphology dependence, temperature influence, and III/V flux ratio dependent growth. The perspective and an outlook of this field is discussed in order to foresee the future of the fundamental research and application of these one dimensional nanostructures. 展开更多
关键词 Ⅲ-Ⅴ SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURE NANOWIRE advanced charactrization epitaxy growth
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GaN生长工艺流程实时监控系统 被引量:1
11
作者 王三胜 顾彪 +2 位作者 徐茵 王知学 杨大智 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2002年第1期60-64,共5页
文章分析了在ECR-MOCVD装置上外延生长GaN单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响GaN结晶质量的主要因素。在此基础上,设计了一套由80C31单片机为核心的光电隔离电路和PC机组成的两级系统,用于GaN薄膜外延生长的工艺流程监控,并提出了... 文章分析了在ECR-MOCVD装置上外延生长GaN单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响GaN结晶质量的主要因素。在此基础上,设计了一套由80C31单片机为核心的光电隔离电路和PC机组成的两级系统,用于GaN薄膜外延生长的工艺流程监控,并提出了一种合适的工艺流程监控策略。 展开更多
关键词 ECR-MOCVD 外延生长 GAN 半导体材料 工艺流程 实时监控系统
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GaN生长工艺流程实时监控系统
12
作者 王三胜 顾彪 +2 位作者 徐茵 王知学 杨大智 《大连理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2001年第6期701-706,共6页
分析了在 ECR-MOCVD装置上外延生长 Ga N单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响 Ga N结晶质量的主要因素 .在此基础上 ,设计了一套由 80 C31单片机为核心的光电隔离电路和 PC机组成的两级系统 ,用于 Ga N薄膜外延生长的工艺流程监控 ... 分析了在 ECR-MOCVD装置上外延生长 Ga N单晶薄膜的工艺过程特点和在此过程中影响 Ga N结晶质量的主要因素 .在此基础上 ,设计了一套由 80 C31单片机为核心的光电隔离电路和 PC机组成的两级系统 ,用于 Ga N薄膜外延生长的工艺流程监控 .并提出了一种合适的工艺流程监控策略 ,阐述了如何从软件上确保工艺流程的连续可靠运行 .实践证明 ,软硬件系统设计合理、抗干扰措施完善 ,很好地保证了工艺流程的连续可靠运行 ,实验数据的可靠性和工艺流程的可重复性也大大提高 ,并对类似系统的工艺过程自动化设计具有一定的指导借鉴意义 . 展开更多
关键词 半导体工艺 ECR-MOCVD 外延生长 实时监控 光电隔离 氮化镓 GAN
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Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体薄膜材料的热壁外延生长
13
作者 孟庆巨 吴连民 +3 位作者 黄瑛 杨慧 陈佰军 郎远涛 《吉林大学自然科学学报》 CAS CSCD 1994年第3期75-81,共7页
本文利用改进了的热壁外延装置,在GaAs衬底上外延生长了GdTe,ZnSe,ZnSSe,ZnS等半导体单晶薄膜,ZnSe/ZnS,ZnSSe/ZnSe异质结构和ZnS/ZnSe,ZnSSe/ZnSe超薄层、多层结构。... 本文利用改进了的热壁外延装置,在GaAs衬底上外延生长了GdTe,ZnSe,ZnSSe,ZnS等半导体单晶薄膜,ZnSe/ZnS,ZnSSe/ZnSe异质结构和ZnS/ZnSe,ZnSSe/ZnSe超薄层、多层结构。SEM,EMPA,XRD及PL等分析测试结果表明,所生长的半导体薄膜材料具有良好的结晶学性质和光学性质。 展开更多
关键词 热壁外延生长 半导体薄膜 外延生长
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Ⅲ-Ⅴ族化合物超薄层外延生长新技术——原子层外延
14
作者 齐学参 《半导体情报》 1992年第2期1-10,共10页
本文概述了Ⅲ-Ⅴ族化合物原子层外延(ALE),重点介绍了脉冲喷射(PJ)-ALF、氯化物-ALE和增强迁移外延(MEE)。ALE生长层厚度对生长参数,如源气体分压、生长温度和生长时间都不敏感,主要取决于ALE周期数目,因此ALE又称“数字外延”。与传统... 本文概述了Ⅲ-Ⅴ族化合物原子层外延(ALE),重点介绍了脉冲喷射(PJ)-ALF、氯化物-ALE和增强迁移外延(MEE)。ALE生长层厚度对生长参数,如源气体分压、生长温度和生长时间都不敏感,主要取决于ALE周期数目,因此ALE又称“数字外延”。与传统的MBE和MOCVD相比,ALE具有生长层厚度更均匀、缺陷密度更低、选择外廷中无边缘生长以及侧壁外延可控制到单原子层等优点。文中还讨论了ALEⅢ-Ⅴ族化合物电学性能和应用。 展开更多
关键词 外延生长 Ⅲ-V族化合物 原子层外延
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AlGaN紫外探测器及其焦平面阵列技术研究进展 被引量:1
15
作者 王颖 王振 《半导体光电》 CAS 北大核心 2022年第3期430-437,共8页
AlGaN紫外探测器及其焦平面阵列具有本征可见光盲特性,并可实现无需滤光片的日盲探测,且为全固态器件,是紫外探测技术的一个重要发展方向。文章介绍了AlGaN紫外探测器与焦平面阵列的研究现状及其存在的问题。在此基础上,分析了AlGaN雪... AlGaN紫外探测器及其焦平面阵列具有本征可见光盲特性,并可实现无需滤光片的日盲探测,且为全固态器件,是紫外探测技术的一个重要发展方向。文章介绍了AlGaN紫外探测器与焦平面阵列的研究现状及其存在的问题。在此基础上,分析了AlGaN雪崩光电二极管(APD)发展的基本条件,并介绍了AlGaN APD的发展现状及趋势。 展开更多
关键词 ALGAN 日盲紫外 焦平面阵列 外延生长 P型掺杂
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[(BaTiO_3)_m/(SrTiO_3)_m]_n超晶格生长的RHEED实时研究
16
作者 魏雄邦 姜斌 +4 位作者 李燕 邓宏 蒋书文 张鹰 姚海军 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2005年第2期178-181,共4页
利用反射高能电子衍射(RHEED),研究了在SrTiO3(100)基片上采用激光分子束外延法生长的[(Ba-TiO3)m/(SrTiO3)m]n超晶格薄膜的生长特性。观察到清晰明亮的反射高能电子衍射花样及富有周期性的RHEED振荡曲线,制备的超晶格呈现良好的结晶层... 利用反射高能电子衍射(RHEED),研究了在SrTiO3(100)基片上采用激光分子束外延法生长的[(Ba-TiO3)m/(SrTiO3)m]n超晶格薄膜的生长特性。观察到清晰明亮的反射高能电子衍射花样及富有周期性的RHEED振荡曲线,制备的超晶格呈现良好的结晶层状外延生长,薄膜表面及界面的平整度很好。 展开更多
关键词 反射高能电子衍射(RHEED) 超晶格 外延生长
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PVD纳米涂层致硬机理研究现状及发展 被引量:12
17
作者 吴雁 王冰 +2 位作者 王犁 肖礼军 张而耕 《表面技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第7期90-97,119,共9页
从纳米多层涂层和纳米复合涂层两个角度总结了PVD纳米涂层的强化机制和涂层设计准则,提出了现有的涂层强化机制及涂层设计准则主要存在涂层强化机制适用性不足和理论性问题缺乏实验手段论证两个问题,并合理分析了问题存在的原因。从纳... 从纳米多层涂层和纳米复合涂层两个角度总结了PVD纳米涂层的强化机制和涂层设计准则,提出了现有的涂层强化机制及涂层设计准则主要存在涂层强化机制适用性不足和理论性问题缺乏实验手段论证两个问题,并合理分析了问题存在的原因。从纳米多层涂层和纳米复合涂层两个角度,综述了PVD纳米涂层致硬机理的国内外研究现状。研究现状表明,涂层强化机制和一些涂层表征实验在涂层致硬机理研究中扮演着重要的角色,研究者们根据涂层强化机制和必要的实验手段对涂层的致硬机理进行了分析。但是涂层强化机制并非涂层致硬机理研究中必不可少的工具,既存在用一种或多种涂层强化机制解释涂层致硬机理的情况,又存在未使用涂层强化机制去解释涂层致硬机理的情况。针对这种现象,分析了其存在的内因和外因。外因为涂层材料组合方式和实验研究变量不同;内因为涂层强化机制及设计准则不完善。最后结合PVD纳米涂层致硬机理研究现状存在的问题,本着完善涂层强化机制和设计准则的目的,对未来研究方向进行了展望。 展开更多
关键词 纳米多层涂层 纳米复合涂层 致硬机理 强化机制 涂层设计准则 共格外延生长
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图形化蓝宝石衬底技术综述 被引量:9
18
作者 汪明刚 杨威风 +2 位作者 胡冬冬 李超波 夏洋 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2012年第8期35-43,共9页
采用图形化蓝宝石衬底(PSS)技术可以降低GaN外延层材料位错密度,提高了发光二极管(LED)的内量子效率(IQE),同时使LED光析出率(LEE)提高。基于PSS技术可以制作高效GaN基高亮度LED。基于已公开发表文献对用于高效LED制作的PSS技术做了综述... 采用图形化蓝宝石衬底(PSS)技术可以降低GaN外延层材料位错密度,提高了发光二极管(LED)的内量子效率(IQE),同时使LED光析出率(LEE)提高。基于PSS技术可以制作高效GaN基高亮度LED。基于已公开发表文献对用于高效LED制作的PSS技术做了综述,介绍了PSS技术演化、PSS的制作方法与主要的图形结构、PSS上GaN外延层生长机制以及PSS对LED性能的影响。PSS结构对LED的IQE与LEE均有提高,但对二者哪个提高更为有效没有定论,最近的研究结果倾向于以为对LEE提高更为有效。PSS对LED的IQE与LEE提高的机制目前并不是非常清楚,对公开发表的PSS对LEE的提高机制提出了不同看法。不同PSS结构与尺寸对GaN质量以及LED性能的影响方面的研究目前还非常缺乏。 展开更多
关键词 材料 图形化蓝宝石衬底 发光二极管 内量子效率 GAN外延生长 光析出率
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SrTiO_3薄膜氧缺陷的第一性原理研究 被引量:8
19
作者 薛卫东 蔡军 +2 位作者 王明玺 张鹰 李言荣 《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期875-878,共4页
在广义梯度近似(GGA)下,利用超软赝势对真空条件下SrTiO3超晶胞的体系能量、原子间电子云重叠布局数和电子态密度等进行了自恰计算.结果显示,对有氧缺陷的超晶胞优化后,晶格参数的几何平均值增大了2.711%,这表明在高温条件下外延生长ST... 在广义梯度近似(GGA)下,利用超软赝势对真空条件下SrTiO3超晶胞的体系能量、原子间电子云重叠布局数和电子态密度等进行了自恰计算.结果显示,对有氧缺陷的超晶胞优化后,晶格参数的几何平均值增大了2.711%,这表明在高温条件下外延生长STO薄膜时,产生了氧缺陷,并且氧空位易处于薄膜表层;另外,表层氧缺陷使表层Ti原子明显的发生偏心位移,两个Ti原子的核间距由0.3905 nm增大至0.4234 nm,b轴上的氧原子则向中心靠近了0.0108 nm、并沿c轴方向上突了0.0027 nm,使STO晶体产生自发极化,氧缺陷还使STO的电子态密度的能隙增宽了1.75 eV,达到2.48 eV,从而使STO晶体由顺电相转向铁电相. 展开更多
关键词 薄膜物理学 氧缺陷 第一性原理 态密度 外延生长
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高性能顶栅结构有机薄膜晶体管 被引量:4
20
作者 洪飞 谭莉 +5 位作者 朱棋锋 向长江 韩学斌 张其国 郭晓东 申剑锋 《液晶与显示》 CAS CSCD 北大核心 2012年第3期313-317,共5页
采用六联苯(p-6P)和氧钒酞菁(VOPc)作为有源层材料,利用弱外延生长技术制备有机薄膜晶体管(OTFT)。在相同的工艺条件下制备了顶栅结构(top-gate)和底栅结构(bottom-gate)两种器件构型,发现两种不同结构的OTFT器件特性存在较大的差异,top... 采用六联苯(p-6P)和氧钒酞菁(VOPc)作为有源层材料,利用弱外延生长技术制备有机薄膜晶体管(OTFT)。在相同的工艺条件下制备了顶栅结构(top-gate)和底栅结构(bottom-gate)两种器件构型,发现两种不同结构的OTFT器件特性存在较大的差异,top-gate OTFT的迁移率比bottom-gate OTFT高很多。在顶栅结构的器件构型中获得了较高的器件特性参数,迁移率达到1.6cm2/V.s。研究了弱外延生长技术应用在两种不同器件构型中的差异,并解释了顶栅结构OTFT迁移率较高的原因。 展开更多
关键词 有机薄膜晶体管 顶栅结构 弱外延 氧钒酞菁
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