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通过功能B.I Stress实现早期失效筛选
1
作者
赵来钖
盛娜
+1 位作者
李焕春
刘宏伟
《中国集成电路》
2019年第3期31-34,共4页
随着汽车产业的蓬勃发展,满足车规质量标准的IC无疑是各集成电路设计生产企业必争的高端高利市场领域。但是车规领域的质量需求门槛极高,需要设计,加工,筛选共同的努力才能达到车规IC的品质需求。本文介绍一种通过在测试筛选阶段加入基...
随着汽车产业的蓬勃发展,满足车规质量标准的IC无疑是各集成电路设计生产企业必争的高端高利市场领域。但是车规领域的质量需求门槛极高,需要设计,加工,筛选共同的努力才能达到车规IC的品质需求。本文介绍一种通过在测试筛选阶段加入基于功能的Burn-in(B.I)Stress,实现对IC逻辑器件早期失效的筛选。建立车规级筛选中不可缺少的一环。
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关键词
BURN-IN
早期失效筛选
STRESS
B.I
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职称材料
题名
通过功能B.I Stress实现早期失效筛选
1
作者
赵来钖
盛娜
李焕春
刘宏伟
机构
北京中电华大电子设计有限责任公司
出处
《中国集成电路》
2019年第3期31-34,共4页
文摘
随着汽车产业的蓬勃发展,满足车规质量标准的IC无疑是各集成电路设计生产企业必争的高端高利市场领域。但是车规领域的质量需求门槛极高,需要设计,加工,筛选共同的努力才能达到车规IC的品质需求。本文介绍一种通过在测试筛选阶段加入基于功能的Burn-in(B.I)Stress,实现对IC逻辑器件早期失效的筛选。建立车规级筛选中不可缺少的一环。
关键词
BURN-IN
早期失效筛选
STRESS
B.I
Keywords
Burn-in
early
failures
rejection
Stress
B.I
分类号
U463.6 [机械工程—车辆工程]
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题名
作者
出处
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1
通过功能B.I Stress实现早期失效筛选
赵来钖
盛娜
李焕春
刘宏伟
《中国集成电路》
2019
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