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XPS在YAG:Ce^(3+)荧光粉中Ce^(3+)半定量分析方面的应用
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作者 王廉明 庄李强 +1 位作者 黄月霞 王德强 《华东理工大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2015年第4期484-488,共5页
利用XPS测试方法对YAG:Ce3+荧光粉中的Ce3+含量进行了半定量分析,为研究Ce3+含量与YAG:Ce3+荧光粉发光强度的关系,在不同的烧结气氛下制备了一系列YAG:Ce3+荧光粉样品。通过分峰拟合计算可知,在4种不同的制备条件下,Ce3+的相对含量(fCe... 利用XPS测试方法对YAG:Ce3+荧光粉中的Ce3+含量进行了半定量分析,为研究Ce3+含量与YAG:Ce3+荧光粉发光强度的关系,在不同的烧结气氛下制备了一系列YAG:Ce3+荧光粉样品。通过分峰拟合计算可知,在4种不同的制备条件下,Ce3+的相对含量(fCe3+,用Ce3+峰面积与Ce3++Ce4+峰面积之比来估算)分别是88.46%,77.55%,75.33%和68.14%,所对应的烧结气氛依次为CO和N2的混合气氛、CO气氛、N2气氛和空气烧结气氛。YAG:Ce3+荧光粉的发光强度随着Ce3+相对含量的增加有显著增强。 展开更多
关键词 YAG:ce3+荧光粉 半定量分析 发光强度 ce3+相对含量 XPS
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