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深亚微米全差分采样/保持电路设计
被引量:
1
1
作者
刘成
张乃燃
+2 位作者
孟昊
侯立刚
吴武臣
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z1期145-147,共3页
本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度。设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V...
本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度。设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V电源电压和50MHz采样频率工作条件下能够稳定工作。
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关键词
cmos
深亚微米
全差分
下极板采样
下载PDF
职称材料
题名
深亚微米全差分采样/保持电路设计
被引量:
1
1
作者
刘成
张乃燃
孟昊
侯立刚
吴武臣
机构
北京工业大学集成电路与系统实验室
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006年第z1期145-147,共3页
文摘
本文介绍采用深亚微米CMOS工艺设计的全差分采样/保持电路,该电路应用下极板采样技术和全差分结构以消除开关电荷注入和时钟馈通引起的误差,从而获得高精度。设计采用0.18μm CMOS工艺条件并通过spectre软件模拟仿真,结果表明电路在3 V电源电压和50MHz采样频率工作条件下能够稳定工作。
关键词
cmos
深亚微米
全差分
下极板采样
Keywords
cmos
deep sub-micron full differential bottom plate sampling
分类号
TH7-55 [机械工程—仪器科学与技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
深亚微米全差分采样/保持电路设计
刘成
张乃燃
孟昊
侯立刚
吴武臣
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2006
1
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