-
题名I_(DDQ)测试技术探讨
被引量：4
- 1
-
-
作者
周生龙
缪栋
-
机构
第二炮兵工程学院
-
出处
《国外电子测量技术》
2001年第1期13-15,24,共4页
-
文摘
本文介绍CMOS电路的静态电流I_(DDQ)测试的有关概念,讨论I_(DDQ)阀值的确定方法和几种测试电路的实现,并对I_(DDQ)测试矢量的产生进行简要评述,指出在深亚微米条件下继续运用I_(DDQ)测试方法的可行性和实现方法。
-
关键词
CMOS
IDDQ测试
集成电路
静态电流测试
-
Keywords
CMOS static Current IDDQ Flaws Testing
-
分类号
TN432.07
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
-
题名车辆蓄电池亏电测试分析
被引量：4
- 2
-
-
作者
范书华
许丰
赵有为
-
机构
徐州徐工汽车制造有限公司
-
出处
《汽车电器》
2022年第5期74-76,共3页
-
文摘
针对市场反馈的车辆蓄电池亏电导致车辆无法启动的现象,本文通过对实车蓄电池、静态电流、电平衡测试,分析、定位出车辆亏电的原因,并提出改善措施。
-
关键词
蓄电池
亏电
静态电流测试
电平衡测试
-
Keywords
battery
power loss
quiescent current test
electric balance test
-
分类号
U463.633
[机械工程—车辆工程]
-
-
题名基于LK8810S平台的数字集成电路测试
被引量：3
- 3
-
-
作者
陈梅芬
陈瑞森
李伟权
吴沁
-
机构
厦门海洋职业技术学院
-
出处
《集成电路应用》
2022年第6期41-43,共3页
-
基金
2019年福建省中青年教师教育科研项目(JAT191314)。
-
文摘
阐述基于LK8810S平台的数字集成电路测试技术,它对典型数字芯片74HC595测试,包括开路、短路、直流参数、逻辑功能进行测试,测试结果表明,此测试方案准确有效。
-
关键词
集成电路测试
逻辑功能测试
静态电流测试
-
Keywords
integrated circuit test
logic function test
quiescent current test
-
分类号
TN606
[电子电信—电路与系统]
TN407
-
-
题名QTAG:静态电流标准监控器的研究进展
被引量：1
- 4
-
-
作者
David Leslie
赵振峰
-
出处
《微电子测试》
1996年第2期34-37,共4页
-
文摘
为了准备1995年国际测试会议(ITC),质量测试工作组(QTAG)将要正式通过一个静态电流测试(I_(DDQ))的标准监控器。本文说明了QTAG的背景,描述了该工作组在开发和评估新的电流监控器电路时所面临的挑战。本文还提供了几种可能的解决方案。
-
关键词
QTAG
静态电流测试
IDDQ
标准监控器
-
分类号
TM933.1
[电气工程—电力电子与电力传动]
-
-
题名浅析汽车线束安全试验
- 5
-
-
作者
陶莹
汪振兴
孙丰超
-
机构
安徽江淮汽车集团股份有限公司
-
出处
《汽车实用技术》
2017年第2期164-167,共4页
-
文摘
整车线束安全试验即为通过对整车线束回路在电器件各种运行工况下的电压、电流测试,实践校核整车线束、电器件的匹配合理性及安全性,避免因设计计算遗漏及特殊工况下电器件的性能偏差行为导致的线路故障、失火风险及电器功能失真。整车线束负载安全试验主要包含:单负载试验,全负载试验,短路试验,静态电流测试。
-
关键词
线束匹配
电气安全
单负载试验
全负载试验
短路试验
静态电流测试
-
Keywords
Harness match
electrical safety
a single load test
full load test
short-circuit test
static current testing
-
分类号
U463.62
[机械工程—车辆工程]
-
-
题名深亚微米工艺下芯片的差分静态电流测试分析
- 6
-
-
作者
曹福全
石艳玲
陈哲
甘甜
温秀芝
刘婧
-
机构
华东师范大学信息科学与技术学院
迪艾自动测试设备有限公司
-
出处
《微电子学》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第5期633-636,共4页
-
基金
上海市科委基金资助项目(04QMX1419,075007033)
-
文摘
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化后的ΔIddq辅助测量技术可有效筛选出功能测试不能覆盖的故障类型,提高了测试覆盖率。
-
关键词
差分静态电流测试
深亚微米器件
故障覆盖率
-
Keywords
△Iddq test
Deep submicron device
Fault coverage
-
分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
-
