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稀磁半导体Zn_(1-x)Mn_xSe/GaAs外延膜光学特性研究
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作者 史向华 刘小兵 《长沙水电师院学报（自然科学版）》 2001年第3期64-66,共3页
研究了用热壁外延法在GaAs衬底上生长的不同x含量的Zn1-xMnxSe薄膜 .通过X射线衍射和喇曼光谱的研究表明 ,晶体的质量取决于Mn的含量 ,随着Mn的含量的增高 ,晶体的质量下降 .
关键词 X射线衍射谱 喇曼光谱 稀磁半导体 Zn1-xMnxSe薄膜 镓砷衬底 光学特性
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