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VXI通用总线仿真器的设计
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作者 邓斌 毕增军 +1 位作者 黎志荣 盛文 《空军雷达学院学报》 2004年第3期37-39,共3页
对带微处理器电路的故障测试一般采用仿真测试的方法,为使故障测试系统能够测试带各种类型微处理器的电路,采用通用总线仿真技术,本文设计了一种基于VXI总线结构的通用总线仿真器,测试实验证明它能满足对带微处理器电路的各项测试要求.... 对带微处理器电路的故障测试一般采用仿真测试的方法,为使故障测试系统能够测试带各种类型微处理器的电路,采用通用总线仿真技术,本文设计了一种基于VXI总线结构的通用总线仿真器,测试实验证明它能满足对带微处理器电路的各项测试要求.因此,可以用来组建带微处理器电路的自动测试系统. 展开更多
关键词 带微处理器电路 故障测试 通用总线仿真器 VXI总线
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