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复介电缺陷层镜像对称1维光子晶体特性研究 被引量:4
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作者 陈海波 胡素梅 高英俊 《激光技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第5期531-533,共3页
为了研究关于复介电常量缺陷层镜像对称的1维光子晶体的带隙结构和光传输特性,利用传输矩阵法,讨论了缺陷层的复介电常量的虚部为负值且光学厚度为λ0/2的情形对传输特性的影响。结果表明,当在光子晶体加入复介电常量的缺陷层后,在靠近... 为了研究关于复介电常量缺陷层镜像对称的1维光子晶体的带隙结构和光传输特性,利用传输矩阵法,讨论了缺陷层的复介电常量的虚部为负值且光学厚度为λ0/2的情形对传输特性的影响。结果表明,当在光子晶体加入复介电常量的缺陷层后,在靠近光子带隙边缘,出现了较强的透射峰增益;随着缺陷层复介电常量的实部和虚部的增加,透射增益先增加后减少,中间存在一极值点,但缺陷膜的位置和高度不受复介电常量的实部和虚部的影响。这一结果为光子晶体同时实现超窄带滤波器和光放大微器件提供了理论基础。 展开更多
关键词 物理光学 透射增益 传输矩阵法 复介电常量缺陷 缺陷
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基于等效膜层法的极紫外光刻含缺陷掩模多层膜仿真模型 被引量:10
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作者 刘晓雷 李思坤 王向朝 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第6期263-271,共9页
建立了一个基于等效膜层法的极紫外光刻含缺陷掩模多层膜仿真模型。通过等效膜层法求解含缺陷多层膜无缺陷区域和含缺陷区域不同位置的反射系数,准确快速地仿真含缺陷多层膜的衍射谱。与波导法严格仿真相比,200nm尺寸时仿真速度提高9倍... 建立了一个基于等效膜层法的极紫外光刻含缺陷掩模多层膜仿真模型。通过等效膜层法求解含缺陷多层膜无缺陷区域和含缺陷区域不同位置的反射系数,准确快速地仿真含缺陷多层膜的衍射谱。与波导法严格仿真相比,200nm尺寸时仿真速度提高9倍左右。与改进单平面近似模型和基于单平面近似的简化模型相比,该模型对衍射谱和空间像的仿真精度有了较大提高,并且仿真精度随缺陷尺寸和入射角的变化很小。以+1级衍射光为例,6°入射时,与改进单平面近似模型和简化模型相比,该模型对衍射谱振幅的仿真误差分别减小了77%和63%。 展开更多
关键词 光学设计 极紫外光刻 衍射 缺陷多层 等效层法 改进单平面近似
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缺陷LB膜诱导草酸钙晶体环图形形成 被引量:3
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作者 欧阳健明 邓穗平 《中国科学(B辑)》 CAS CSCD 北大核心 2007年第4期339-343,共5页
利用存在缺陷的LB膜来模拟受损伤的肾上皮细胞膜,研究了膜缺陷的微结构及其影响一水草酸钙(COM)晶体成核、生长、沉积图形和黏附的分子机制.二棕榈酰磷脂酰胆碱(DPPC)LB膜经草酸钾处理后可形成圆形缺陷,并诱导COM微晶排列成环状图形... 利用存在缺陷的LB膜来模拟受损伤的肾上皮细胞膜,研究了膜缺陷的微结构及其影响一水草酸钙(COM)晶体成核、生长、沉积图形和黏附的分子机制.二棕榈酰磷脂酰胆碱(DPPC)LB膜经草酸钾处理后可形成圆形缺陷,并诱导COM微晶排列成环状图形,相比之下,没有经草酸钾处理的LB膜只诱导零散的六边形COM晶体生成.随着生长时间增加,环内单个COM晶体的尺寸明显增加,空心的环状晶体图形倾向于转变为实心的圆形图形,且小尺寸(5~20μm)的圆形晶体图案数量增加.本结果有助于在分子和超分子的水平上进一步了解肾上皮细胞膜损伤后诱导肾结石形成的分子机制. 展开更多
关键词 缺陷LB 草酸钙 SEM 生物矿化
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LB膜中的缺陷畴区及其诱导形成环形草酸钙图形 被引量:2
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作者 邓穗平 欧阳健明 《物理化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2007年第5期713-716,共4页
利用存在缺陷的LB膜来模拟受损伤的肾上皮细胞膜诱导肾结石矿物草酸钙(CaOxa)晶体生长.经2.5mmol·L^(-1)的草酸钾溶液对二棕榈酰磷脂酰胆碱(DPPC)的LB膜进行处理后,可强化LB膜中液态扩张相(LE)和液态凝聚相(LC)之间的结构差异,原... 利用存在缺陷的LB膜来模拟受损伤的肾上皮细胞膜诱导肾结石矿物草酸钙(CaOxa)晶体生长.经2.5mmol·L^(-1)的草酸钾溶液对二棕榈酰磷脂酰胆碱(DPPC)的LB膜进行处理后,可强化LB膜中液态扩张相(LE)和液态凝聚相(LC)之间的结构差异,原子力显微镜(AFM)证实了圈状缺陷的存在.以LB膜的圈状缺陷为模板,诱导了一水草酸钙(COM)晶体环状图案.相比之下,未经草酸钾处理的LB膜只诱导生成零散的六边形COM晶体. 展开更多
关键词 缺陷LB 生物矿化 草酸钙 AFM
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磁力探伤缺陷显示膜的应用 被引量:1
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作者 刘彬 《无损探伤》 2008年第1期46-47,共2页
缺陷显示膜是一种新的磁力探伤显示装置,可以代替现有的磁粉和磁悬液,灵敏度高于磁粉,接近磁悬液,A型试块可清晰显示。
关键词 缺陷显示 磁力探伤 A型试块
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磁力探伤缺陷显示膜
6
作者 刘彬 王众 《无损检测》 2004年第10期529-530,共2页
缺陷显示膜是一种新的磁力探伤显示材料,可以代替现有的磁粉和磁悬液,灵敏度高于干磁粉,接近磁悬液,A型试块可清晰显示。
关键词 缺陷显示 磁力探伤 灵敏度
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