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微波电路基片复介电常数无损测量的简单方法 被引量：1
1
作者 田步宁 杨德顺 +1 位作者 唐家明 刘其中 《西安电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第4期543-546,共4页
提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法 .该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联 ,得到了复介电常数无损测量的计算公式 .理论分析与实验结果表明 :与传统的“场”分析方法相比 ,该方法具有模型简单、... 提出了一种无损测量微波电路基片复介电常数的简单方法 .该方法把被测材料及取样器等效为测量网络与误差网络的并联 ,得到了复介电常数无损测量的计算公式 .理论分析与实验结果表明 :与传统的“场”分析方法相比 ,该方法具有模型简单、计算量小、精度较高且容易实现的优点 .另外 ,对于材料置于封闭波导或同轴线中的有损测量情况 。 展开更多
关键词 电路基片 无损测量 复介电常数 微波集成电路 微带电路
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用轧膜成形方法研制95瓷电路基片(板) 被引量：1
2
作者 黄家越 史元科 《陶瓷》 CAS 2004年第2期31-33,共3页
轧膜成形方法是一种薄片瓷坯的成形工艺 ,主要用于电子陶瓷工业中轧制电路基片 (板 ) ,电容及独石电容等瓷坯。轧膜成形属于可塑成形方法 ,适于轧制 1.5 以下坯片 ,常见为 0 .5～ 1.2 。最薄可达 0 .0 5 的超薄片 ,但生产难度较大 。
关键词 轧膜成形 电路基片 电子陶瓷 95瓷 研制
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利用扫描电子显微镜对BeO电路基片进行失效分析
3
作者 王志红 常嗣和 +1 位作者 包生祥 宁永功 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期792-793,共2页
关键词 扫描电子显微镜 BEO 电路基片 失效分析 氧化铍陶瓷 薄膜电路
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金属弹片自动布放机
4
作者 Terry Persun 《工业设计》 2007年第6期40-42,共3页
创新的设计概念使得Snaptron公司能够将一种全新的传送方式与升级的运动系统有机地结合起来,使原本艰辛的工作能够更加快速、高效地进行。
关键词 布放 金属 电路基片 设计概念 运动系统 公司 孔穴 机器 传送方式 操作界面
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锡膏点涂分配装置在微型混合电路基片表面贴装中的应用 被引量：1
5
作者 王瑞 李宝华 《机电元件》 2000年第3期25-28,共4页
文章通过对微型混合电路基片表面贴装工艺技术的分析，论述了焊锡膏的特性和焊锡膏粘度、喷嘴尺寸与自动配合装置的匹配原则；同时还论述了视觉瞄准系统在自动分配装置中的应用。对于解决继电器生产中的密封胶自动点涂工艺有一定积极意义。
关键词 点涂分配装置 微型混合电路基片 表面贴装工艺 焊锡膏
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陶瓷电路基片孔金属化的显微形貌表征
6
作者 王志红 常嗣和 +1 位作者 姬洪 阮世池 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第5期790-791,共2页
关键词 陶瓷电路基片 孔金属化 显微形貌表征 印制板 制造工艺
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厚膜电路基片上SOT-23元件抗剪强度初探
7
作者 吕江平 《集成电路通讯》 2003年第2期19-22,共4页
尝试从类比芯片剪切强度实验出发，得到SoT-23元件抗剪强度的准理论依据，给出了判断标准。
关键词 厚膜电路基片 SOT-23 抗剪强度 剪切力 判断标准
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AlN陶瓷研究动态
8
《真空电子技术》 2009年第4期93-93,共1页
关键词 ALN陶瓷 电路基片 制备技术 陶瓷基片 应用
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