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整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究
被引量：
2
1
作者
孙天希
刘志国
丁训良
《北京师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期769-773,共5页
结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究 ,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪 .工作电压和电流分别为 2 5kV和 10 0mA时 ,该谱仪在 9.92keV能量点处 ,计数率为 3.12× 10 4 s- 1,在钨杂质的...
结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究 ,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪 .工作电压和电流分别为 2 5kV和 10 0mA时 ,该谱仪在 9.92keV能量点处 ,计数率为 3.12× 10 4 s- 1,在钨杂质的特征谱线Lβ1能量点处 ,能量分辨率为15 .4eV .整体平行束X光透镜在该谱仪中既起到会聚X射线的作用又可实现高能滤波器的功能 .对实验现象进行了理论分析 .
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关键词
整体
平行
束
x光
透镜
实验室EXAFS谱仪
粉末衍射仪
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职称材料
题名
整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究
被引量：
2
1
作者
孙天希
刘志国
丁训良
机构
北京师范大学射线束技术与材料改性教育部重点实验室
出处
《北京师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期769-773,共5页
基金
国家自然科学基金仪器专项资助项目 (1982 70 0 2 )
文摘
结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究 ,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪 .工作电压和电流分别为 2 5kV和 10 0mA时 ,该谱仪在 9.92keV能量点处 ,计数率为 3.12× 10 4 s- 1,在钨杂质的特征谱线Lβ1能量点处 ,能量分辨率为15 .4eV .整体平行束X光透镜在该谱仪中既起到会聚X射线的作用又可实现高能滤波器的功能 .对实验现象进行了理论分析 .
关键词
整体
平行
束
x光
透镜
实验室EXAFS谱仪
粉末衍射仪
Keywords
monolithic polycapillary half-lens
in-laboratory EXAFS spectrometer
powder diffractometer
分类号
O434 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究
孙天希
刘志国
丁训良
《北京师范大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2004
2
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