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偶氮苯型侧链液晶聚合物的阻隔特性研究 被引量:7
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作者 刘剑 吴晓华 王明乐 《高分子学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2010年第10期1231-1237,共7页
合成了偶氮苯侧链液晶聚合物聚甲基丙烯酸(3-[4-(4′-氰基偶氮苯)苯氧基]丙酯)(PM3ABCN),采用原位掠入射X射线衍射(GIXRD)方法研究了该聚合物膜在向列相和各向同性态(无定形相)时对气体的阻隔特性.并采用X射线能谱仪(EDS)分析铁片氧化... 合成了偶氮苯侧链液晶聚合物聚甲基丙烯酸(3-[4-(4′-氰基偶氮苯)苯氧基]丙酯)(PM3ABCN),采用原位掠入射X射线衍射(GIXRD)方法研究了该聚合物膜在向列相和各向同性态(无定形相)时对气体的阻隔特性.并采用X射线能谱仪(EDS)分析铁片氧化后的氧含量,计算得到渗透通过聚合物膜的氧气的量.结果表明,当PM3ABCN膜处于各向同性态时,通过聚合物膜的氧气平均渗透量为1.92×10-3cm3 day-1m-2;而处于液晶态的膜对氧气的阻隔性提高了4.4倍,氧气平均渗透量为4.38×10-4 cm3day-1 m-2.结合样品表面的显微分析结果,探讨了液晶凝聚相结构对气体小分子的阻隔机理. 展开更多
关键词 偶氮苯 侧链液晶聚合物 阻隔 掠入射x射线衍射
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ZnO/GO纳米材料基热稳定钙钛矿太阳能电池(英文) 被引量:6
2
作者 姜文龙 周伟 +2 位作者 应纪飞 杨铁莹 高延敏 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第1期96-100,共5页
为了使钙钛矿太阳能电池在高温退火后能够保持稳定,本研究通过电化学方法制备出氧化锌/氧化石墨烯纳米粒子,并将其运用到钙钛矿太阳能电池中作为电子传输层使用。通过原位掠入射X射线衍射(GIXRD)、X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)... 为了使钙钛矿太阳能电池在高温退火后能够保持稳定,本研究通过电化学方法制备出氧化锌/氧化石墨烯纳米粒子,并将其运用到钙钛矿太阳能电池中作为电子传输层使用。通过原位掠入射X射线衍射(GIXRD)、X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和紫外–可见吸收光谱(UV-Vis)等方法对沉积在氧化锌和氧化锌/氧化石墨烯纳米材料上面的甲胺铅碘的结构、形貌以及电池性能变化进行分析测试。结果表明:氧化锌/氧化石墨烯对于甲胺铅碘有保护作用,沉积在氧化锌/氧化石墨烯上面的甲胺铅碘薄膜稳定性更高,电池性能更加稳定,为将来大面积应用提供了一定的指导。 展开更多
关键词 掠入射x射线衍射 氧化锌/氧化石墨烯 钙钛矿 电子传输层
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金属表面氧化法表征高阻隔特性液晶聚合物膜的透氧性 被引量:4
3
作者 王明乐 吴晓华 刘剑 《包装工程》 CAS CSCD 北大核心 2010年第11期1-5,15,共6页
利用原位掠入射X射线衍射(GIXRD)方法和显微观察法,研究了涂液晶聚合物膜的金属表面氧化腐蚀情况,根据金属表面的氧化速度计算了聚合物膜的氧气渗透性能。实验测得金属表面GIXRD衍射峰强度随氧化时间的延长不断减弱。在X射线入射深度内... 利用原位掠入射X射线衍射(GIXRD)方法和显微观察法,研究了涂液晶聚合物膜的金属表面氧化腐蚀情况,根据金属表面的氧化速度计算了聚合物膜的氧气渗透性能。实验测得金属表面GIXRD衍射峰强度随氧化时间的延长不断减弱。在X射线入射深度内,利用显微镜原位观察得到了金属表面氧化物的面积,结合X射线能谱仪(EDS)测得的氧化物中氧含量,得到液晶聚合物膜的氧气渗透率在10-2cm3/(m2.d)数量级。 展开更多
关键词 掠入射x射线衍射 液晶聚合物 阻隔性 渗透率
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6H-SiC单晶表面ZnO薄膜的制备及其结构表征 被引量:1
4
作者 孙柏 李锐鹏 +5 位作者 赵朝阳 徐彭寿 张国斌 潘国强 陈秀芳 徐现刚 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2008年第4期753-757,共5页
利用脉冲激光淀积(PLD)技术在6H-SiC单晶衬底上制备了ZnO薄膜.利用X射线衍射(XRD),反射式高能电子衍射(RHEED)和同步辐射掠入射X射线衍射(SRGID)Φ扫描等实验技术研究了ZnO薄膜的结构.结果表明:在单晶6H-SiC衬底上制备的ZnO薄膜已经达... 利用脉冲激光淀积(PLD)技术在6H-SiC单晶衬底上制备了ZnO薄膜.利用X射线衍射(XRD),反射式高能电子衍射(RHEED)和同步辐射掠入射X射线衍射(SRGID)Φ扫描等实验技术研究了ZnO薄膜的结构.结果表明:在单晶6H-SiC衬底上制备的ZnO薄膜已经达到单晶水平,不同入射角的SRGID结果,显示了ZnO薄膜内部不同深度处α方向的晶格弛豫是不一致的,从接近衬底界面处到薄膜的中间部分再到薄膜的表面处,α方向的晶格常数分别为0.3264、0.3272和0.3223nm.通过计算得到ZnO薄膜的泊松比为0.504,ZnO薄膜与单晶6H-SiC衬底在平行于衬底表面α轴方向的实际晶格失配度为5.84%. 展开更多
关键词 脉冲激光淀积 氧化锌 碳化硅 掠入射x射线衍射
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X射线掠入射法测定金刚石薄膜厚度的研究 被引量:1
5
作者 方建锋 唐伟忠 +1 位作者 张晋远 郑毅 《物理测试》 CAS 2007年第4期8-11,共4页
本文研究了用近平行的入射X射线,以掠入射的方式,利用薄膜下基体某一晶面衍射强度随掠入射角的变化关系来测定薄膜厚的方法。导出了基体某一晶面的衍射强度的对数InIr与掠入射角函数f(r)之间的线性关系,发现该直线的斜率即为薄膜的线吸... 本文研究了用近平行的入射X射线,以掠入射的方式,利用薄膜下基体某一晶面衍射强度随掠入射角的变化关系来测定薄膜厚的方法。导出了基体某一晶面的衍射强度的对数InIr与掠入射角函数f(r)之间的线性关系,发现该直线的斜率即为薄膜的线吸收系数与其厚度的乘积。对WC-Co硬质合金上的金刚石薄膜厚度进行了测定,并对该方法的重复性进行了验证。结果表明,InIr与f(r)之间的具有很好的线性相关性,而且该方法具有较好的精确性。 展开更多
关键词 掠入射x射线衍射 金刚石薄膜 厚度测定
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离子注N对6061铝合金表层晶粒取向的影响 被引量:2
6
作者 王浩洋 李伟力 +1 位作者 马春利 费维栋 《材料科学与工艺》 EI CAS CSCD 2002年第4期424-426,共3页
通过掠入射X射线衍射及面探扫描实验研究了经氮离子注入后,6061铝合金表层的晶粒取向.结果表明离子注入对铝合金表层的晶粒取向有较大影响,并且随着注入时间的增加,其晶粒取向也发生变化.同时对离子注入层中晶粒取向的形成进行了探讨.
关键词 表层晶粒取向 离子注入 6061铝合金 氮离子 掠入射x射线衍射 金属 表面改性
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La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3簿膜的掠入射X射线衍射研究
7
作者 谭伟石 蔡宏灵 +5 位作者 吴小山 蒋树声 贾全杰 郭立平 何庆 高矩 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第12期914-918,共5页
利用90°离轴射频磁控溅射方法将La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3(LCMO)沉积于(001)取向的SrTiO_3(STO)、MgO和α-Al_2O_3(ALO)单晶基片上,薄膜厚度均为500A。通过掠入射X射线衍射技术测量了LCMO薄膜的横向晶格常数(即面内晶格常数),结合常规... 利用90°离轴射频磁控溅射方法将La_(0.7)Ca_(0.3)MnO_3(LCMO)沉积于(001)取向的SrTiO_3(STO)、MgO和α-Al_2O_3(ALO)单晶基片上,薄膜厚度均为500A。通过掠入射X射线衍射技术测量了LCMO薄膜的横向晶格常数(即面内晶格常数),结合常规X射线衍射研究了LCMO薄膜的晶格应变及其弛豫情况。结果表明,LCMO薄膜在MgO和ALO基片上的应变弛豫临界厚度很小,这可能与薄膜—基片之间高的晶格失配率有关。LCMO薄膜的应变弛豫与四方畸变的弛豫可能具有不同的机制。利用掠入射X射线衍射对LCMO薄膜面内生长取向的研究给出了与利用电子显微技术研究相同的结果。 展开更多
关键词 La07Ca0.3MnO3薄膜 掠入射x射线衍射 应变弛豫 面内晶格常数
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高稳定性(EDA)(FA)_2[Pb_3I_(10)]层状钙钛矿薄膜的制备与表征 被引量:2
8
作者 高延敏 姜文龙 +1 位作者 杨铁莹 左银泽 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第10期1129-1134,共6页
为了提高钙钛矿太阳能电池在潮湿环境中的稳定性,采用一步法,通过在DMF中混合(EDA)I_2、(FA)I和Pb I_2,将乙二胺离子引入钙钛矿晶格,成功制备了一种具有较高稳定性的二维片层状的钙钛矿结构薄膜。通过原位掠入射X射线衍射(GIXRD)、X射... 为了提高钙钛矿太阳能电池在潮湿环境中的稳定性,采用一步法,通过在DMF中混合(EDA)I_2、(FA)I和Pb I_2,将乙二胺离子引入钙钛矿晶格,成功制备了一种具有较高稳定性的二维片层状的钙钛矿结构薄膜。通过原位掠入射X射线衍射(GIXRD)、X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)、紫外–可见吸收光谱(UV-Vis)和原子力显微镜(AFM)等方法检测分析(EDA)(FA)_2[Pb_3I_(10)]在低湿度及高湿度环境下的结构、形貌以及光学性能变化。结果表明:制备的(EDA)(FA)_2[Pb_3I_(10)]薄膜在相同湿度环境下比当前广泛应用于钙钛矿太阳能电池的甲胺铅碘薄膜(CH_3NH_3PbI_3)稳定性更高;薄膜的光学带隙约为1.67 e V,与太阳能电池最佳带隙比较接近。另外,(EDA)(FA)_2[Pb_3I_(10)]薄膜在可见光范围吸光性能较好;薄膜的粗糙度很小,适合制备太阳能电池,而且,成本较硅基太阳能电池低廉,在分子水平较CH_3NH_3PbI_3的可调谐性更大,使钙钛矿太阳能电池在未来大面积应用成为可能。 展开更多
关键词 一步法 钙钛矿 掠入射x射线衍射 乙二胺甲脒铅碘
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Influence of background pressure on the microstructure and optical properties of Mo/Si multilayers fabricated by magnetron sputtering 被引量:2
9
作者 LV Peng ZHANG ZaiQiang +6 位作者 GUAN JinTong WANG XiaoDong HOU XiuLi ZHANG LingYan WANG JiJun CHEN Bo GUAN QingFeng 《Science China(Physics,Mechanics & Astronomy)》 SCIE EI CAS 2013年第9期1689-1693,共5页
Mo/Si multilayers were fabricated by using magnetron sputtering method at different background pressures:6×10-5 Torr,3×10-5 Torr,and 3×10-6 Torr.The reflectivity of the Mo/Si multilayers increased from ... Mo/Si multilayers were fabricated by using magnetron sputtering method at different background pressures:6×10-5 Torr,3×10-5 Torr,and 3×10-6 Torr.The reflectivity of the Mo/Si multilayers increased from 1.93% to 16.63%,and the center wavelength revealed a blue shift to 0.12 nm with the decrease of background pressure.Grazing incident X-ray diffraction(GIXRD) indicated that multilayers fabricated at high background pressure possessed better periodic structure and thinner Mo-on-Si interlayers.Low crystallization degree in(110) preferred the orientation of Mo layers and serious interdiffusion in the Mo/Si multilayers fabricated at low background pressure were observed by transmission electron microscopy(TEM).According to quantitative analysis of microstructural parameters,the Mo layers thickness and thickness ratio of Mo/Si multilayers both decreased and approached the design value gradually by the decrease of background pressure.In addition,the thicknesses of Mo-on-Si and Si-on-Mo interlayers were 1.17 nm and 0.85 nm respectively.It is suggested that the influence of background pressures on the microstructure has a critical role in determining the optical properties of Mo/Si multilayers. 展开更多
关键词 background pressure effects optical properties MULTILAYER MICROSTRUCTURE crystalline orientation
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用X射线衍射法测定氮化镓马赛克结构中的面内扭转角(英文) 被引量:1
10
作者 苏月永 陈志涛 +5 位作者 徐科 郭立平 潘尧波 杨学林 杨志坚 张国义 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第4期514-518,共5页
Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料在发光二极管、激光器和探测器方面有着广泛的应用,采用高分辨X射线衍射来测定用金属有机化学气相沉淀法在蓝宝石衬底上生长的氮化镓外延层马赛克结构的扭转角,分别研究了(0002)、(101-3)、(101-2)、(101-1)、(2... Ⅲ-Ⅴ族氮化物半导体材料在发光二极管、激光器和探测器方面有着广泛的应用,采用高分辨X射线衍射来测定用金属有机化学气相沉淀法在蓝宝石衬底上生长的氮化镓外延层马赛克结构的扭转角,分别研究了(0002)、(101-3)、(101-2)、(101-1)、(202-1)五个面的X射线摇摆曲线,并且用Pseudo-Voigt方程拟合每一个面的摇摆曲线,我们利用外推法很方便地测得氮化镓外延薄膜的面内扭转角。另外我们采用同步辐射X射线掠入射衍射对样品进行(11-00)面反射扫描直接测得面内扭转角,对第一种方法进行验证,两种方法测量结果相同。从而提供一种简单、方便的GaN外延层的面内扭转角的测试方法,为深入研究GaN材料奠定良好基础。 展开更多
关键词 氮化镓 马赛克结构 扭曲角 掠入射x射线衍射 x射线衍射
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同步辐射的基本知识 第二讲 同步辐射中的衍射术及其应用(三)
11
作者 程国峰 杨传铮 黄月鸿 《理化检验(物理分册)》 CAS 2008年第5期275-278,共4页
关键词 掠入射x射线衍射 同步辐射 应用 知识 掠入射衍射 表面结构 表面工程 表面科学
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ZnO薄膜的同质外延生长及其结构表征 被引量:1
12
作者 陈香存 陈铁锌 潘国强 《真空科学与技术学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第5期390-393,共4页
利用等离子体辅助分子束外延的方法在ZnO单晶衬底上制备了ZnO薄膜。利用X射线衍射(XRD)、同步辐射掠入射XRD和φ扫描等实验技术研究了ZnO薄膜的结构。XRD和φ扫描的结果显示同质外延的ZnO薄膜已经达到单晶水平。掠入射XRD结果表明ZnO薄... 利用等离子体辅助分子束外延的方法在ZnO单晶衬底上制备了ZnO薄膜。利用X射线衍射(XRD)、同步辐射掠入射XRD和φ扫描等实验技术研究了ZnO薄膜的结构。XRD和φ扫描的结果显示同质外延的ZnO薄膜已经达到单晶水平。掠入射XRD结果表明ZnO薄膜内部不同深度处a方向的晶格弛豫是不一致的,从接近衬底界面处到薄膜的中间部分再到薄膜的表面处,a方向的晶格常数分别为0.3249,0.3258和0.3242 nm。计算得到ZnO薄膜的泊松比为0.156,同质外延的ZnO薄膜与衬底在a轴方向的晶格失配度为-0.123%。 展开更多
关键词 等离子体辅助分子束处延 氧化锌 掠入射x射线衍射
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TiN薄膜表面离子注入层微观结构的分析研究 被引量:1
13
作者 郭德亮 陶冶 +1 位作者 胡智杰 梁旺胜 《物理测试》 CAS 2011年第1期13-17,共5页
利用磁过滤阴极电弧镀分别在硬质合金和高速钢基体上沉积厚度约2~3μm的TiN薄膜,并用MEVVA源离子注入装置对TiN薄膜注入金属离子V+和Nb+。应用北京同步辐射装置(BSRF)的同步辐射光源,采用掠入射X射线衍射(GIXRD)的方法对TiN薄膜表面离... 利用磁过滤阴极电弧镀分别在硬质合金和高速钢基体上沉积厚度约2~3μm的TiN薄膜,并用MEVVA源离子注入装置对TiN薄膜注入金属离子V+和Nb+。应用北京同步辐射装置(BSRF)的同步辐射光源,采用掠入射X射线衍射(GIXRD)的方法对TiN薄膜表面离子注入层的微观结构进行了分析研究。结果表明:未经过离子注入的TiN薄膜均存在特定方向的择优取向,而较小剂量(1×1017ions/cm2)的离子注入可以使晶粒细化、择优取向减弱或改变;当离子注入的剂量达到5×1017ions/cm2时,TiN薄膜表面离子注入层被非晶化。结合透射电镜的研究结果,观察到TiN薄膜表面非晶层的厚度约为50~100 nm,并简要地讨论了离子注入过程对微观结构的影响机制。 展开更多
关键词 同步辐射 掠入射x射线衍射 离子注入 TIN薄膜 微观结构
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HfO_(2)薄膜的亲疏水性对石墨烯沉积的影响
14
作者 樊瑞祥 王伟 +2 位作者 刘姗 杨玉帅 王凯 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2022年第12期1307-1311,1323,共6页
研究了在不同表面润湿性的HfO_(2)薄膜上沉积石墨烯的质量,判断了不同表面能大小碳原子的沉积方向。采用电子束工艺制备不同生长时间的HfO_(2)薄膜,经过静态接触角测量可知,所有HfO_(2)薄膜均为疏水性,且随着薄膜厚度的增加,表面疏水性... 研究了在不同表面润湿性的HfO_(2)薄膜上沉积石墨烯的质量,判断了不同表面能大小碳原子的沉积方向。采用电子束工艺制备不同生长时间的HfO_(2)薄膜,经过静态接触角测量可知,所有HfO_(2)薄膜均为疏水性,且随着薄膜厚度的增加,表面疏水性加强。再通过等离子体化学气相沉积工艺在HfO_(2)样品表面制备石墨烯薄膜。通过拉曼测试得出,表面中性润湿性基底对于碳沉积密度贡献不大;表面微疏水性基底对于碳原子总沉积量增益不大,但是对于形成sp2轨道的碳碳双键则增强明显,原因主要是由于碳原子在表面横向迁移的作用增强,从而形成大面积石墨烯薄膜。 展开更多
关键词 HfO_(2)薄膜 石墨烯 掠入射x射线衍射 表面接触角 等离子体化学气相沉积
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Improving oxidation resistance of Ni-16Mo-7Cr-4Fe nickel-based superalloy by yttrium microalloying
15
作者 李晓丽 何上明 +4 位作者 周兴泰 李志军 邹杨 李爱国 余笑寒 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2015年第3期33-39,共7页
Microstructure and oxidation behavior of modified Ni-16Mo-7Cr-4Fe alloys by yttrium microalloying were investigated by scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, grazing incident Xray diffraction ... Microstructure and oxidation behavior of modified Ni-16Mo-7Cr-4Fe alloys by yttrium microalloying were investigated by scanning electron microscopy, transmission electron microscopy, grazing incident Xray diffraction and synchrotron radiation X-ray fluorescence. M6 C and Ni17Y2 phases were observed and the amount of Ni17Y2 increased with yttrium concentration. When the yttrium concentration increased to 0.43 wt.%,some Ni17Y2 chains and multi phase regions containing Ni17Y2, M6 C and γ phase appeared, which is harmful for the oxidation resistance. The alloy containing 0.05 wt.% yttrium showed the best oxidation resistance, which derives its oxidation resistance from the adequate concentration of yttrium in the solid-solution(γ phase), the formation of the protective layer of YCr O3 and chromia oxide and the strengthening effect of yttrium on oxide boundaries. 展开更多
关键词 氧化性能 微合金化 钇合金 镍基高温合金 同步辐射x射线荧光 掠入射x射线衍射 扫描电子显微镜 透射电子显微镜
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Al_2O_3基陶瓷表面斑点及其析出相的表征
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作者 刘虹志 彭家根 +1 位作者 杨松 吕平 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2017年第12期1782-1787,共6页
95%Al_2O_3陶瓷高温烧结后表面斑点的表征与控制对于绝缘陶瓷沿面闪络耐压性能的提高至关重要。为分析和鉴定95%Al_2O_3陶瓷表面暗斑区未知物相和化学成分,采用掠入射X射线衍射技术、飞行时间–二次离子质谱仪并结合扫描电子显微镜/能... 95%Al_2O_3陶瓷高温烧结后表面斑点的表征与控制对于绝缘陶瓷沿面闪络耐压性能的提高至关重要。为分析和鉴定95%Al_2O_3陶瓷表面暗斑区未知物相和化学成分,采用掠入射X射线衍射技术、飞行时间–二次离子质谱仪并结合扫描电子显微镜/能谱仪技术对95%Al_2O_3陶瓷表面暗斑进行了研究。结果表明:与正常区相比,暗斑区除α-Al_2O_3外,还形成了(Na,K)AlSi_3O_8和Ca_2Al_2SiO_7铝硅酸盐相,暗斑区Si、Ca含量降低而K、Na、Fe富集。元素含量的变化促进了铝硅酸盐相的析出,进而导致95%Al_2O_3陶瓷表面暗斑的产生。 展开更多
关键词 氧化铝陶瓷 暗斑 掠入射x射线衍射 飞行时间–二次离子质谱仪 铝硅酸盐
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同步辐射GIXRD研究溶液浓度对P3HT薄膜的取向及载流子迁移率的影响
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作者 李海东 王鹏月 张吉东 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2013年第11期1-4,共4页
用不同浓度的氯仿溶液通过旋涂法制备了聚己基噻吩薄膜。一维面外掠入射X射线表征结果说明,面外方向(100)衍射峰的强度随所用溶液浓度下降而增高,(010)衍射峰的变化趋势则相反。二维掠入射X射线衍射的结果表明,这是由于低浓度溶液制备... 用不同浓度的氯仿溶液通过旋涂法制备了聚己基噻吩薄膜。一维面外掠入射X射线表征结果说明,面外方向(100)衍射峰的强度随所用溶液浓度下降而增高,(010)衍射峰的变化趋势则相反。二维掠入射X射线衍射的结果表明,这是由于低浓度溶液制备的薄膜中分子链从face-on取向为主转变为edge-on取向为主。相应的薄膜晶体管器件性能证明了edge-on取向对应着更高的载流子迁移率。 展开更多
关键词 聚噻吩薄膜 掠入射x射线衍射 分子链取向 载流子迁移率
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SrTiO_3薄膜的掠入射X射线衍射研究
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作者 翟章印 《淮阴师范学院学报(自然科学版)》 CAS 2011年第1期22-25,共4页
采用掠入射X射线衍射技术研究了外延SrTiO3薄膜面内晶格应变随着深度的分布.研究发现不管是较薄的还是较厚的薄膜其面内晶格应变随深度的分布都不是连续变化的,而是可以分为三个区域,即表面区、应变驰豫区、界面区.
关键词 掠入射x射线衍射 面内晶格参数 应变深度分布
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AlGaN/GaN异质结构的X射线衍射研究
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作者 谭伟石 徐金 +5 位作者 蔡宏灵 沈波 吴小山 蒋树声 郑文莉 贾全杰 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期413-416,共4页
在(0001)取向的蓝宝石(α-Al2O3)基片上用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法生长了势垒层厚度为1000?的Al0.22Ga0.78N/GaN异质结构;;利用高分辨X射线衍射(HRXRD)技术测量了样品的对称反射(0002)和非对称反射(1014)的倒易空间Mapping(R... 在(0001)取向的蓝宝石(α-Al2O3)基片上用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)方法生长了势垒层厚度为1000?的Al0.22Ga0.78N/GaN异质结构;;利用高分辨X射线衍射(HRXRD)技术测量了样品的对称反射(0002)和非对称反射(1014)的倒易空间Mapping(RSM)。结果表明;;样品势垒层的内部微结构与应变状态和下层i-GaN的微结构与应变状态互相关联。样品势垒层的微应变已经发生弛豫;;而且具有一种“非常规”应变弛豫状态;;这种弛豫状态的来源可能与n-AlGaN的内部缺陷以及i-GaN/α-Al2O3界面应变弛豫状态有关。掠入射X射线衍射研究表明样品内部的应变是不均匀的;;由表层的横向压应变状态过渡到下层的张应变状态;;与根据倒易空间Mapping分析得到的结果一致。 展开更多
关键词 AIGaN/GaN异质结构 倒易空间Mapping 应变弛豫 掠入射x射线衍射
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同步辐射掠入射X射线衍射研究α相聚辛基芴薄膜的微结构
20
作者 陈曦 程凤梅 +1 位作者 李海东 张吉东 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第2期139-142,共4页
将旋涂制备的薄膜在120oC下退火,得到α相的聚辛基芴薄膜,用吸收光谱和荧光光谱进行了验证。用同步辐射一维和二维掠入射X射线衍射对薄膜进行了结构表征,结果表明,虽然聚辛基芴系非线型分子,但在薄膜微晶中分子链段主要以平行于基底的ed... 将旋涂制备的薄膜在120oC下退火,得到α相的聚辛基芴薄膜,用吸收光谱和荧光光谱进行了验证。用同步辐射一维和二维掠入射X射线衍射对薄膜进行了结构表征,结果表明,虽然聚辛基芴系非线型分子,但在薄膜微晶中分子链段主要以平行于基底的edge-on模式排列。 展开更多
关键词 掠入射x射线衍射 聚辛基芴薄膜 微结构
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