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下世纪的抗蚀刻材料
1
作者
周鹤年
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第2期26-30,共5页
半导体大规模集成电路的集成度以相当快的速度逐年提高。现已大量生产4M DRAM(最小线宽0.8μm),1991~1992年将大量生产16M DRAM(最小线宽0.5μm)的产品。集成度之所以能如此急剧地提高是与光刻技术的发展分不开的,而该技术则依赖于抗...
半导体大规模集成电路的集成度以相当快的速度逐年提高。现已大量生产4M DRAM(最小线宽0.8μm),1991~1992年将大量生产16M DRAM(最小线宽0.5μm)的产品。集成度之所以能如此急剧地提高是与光刻技术的发展分不开的,而该技术则依赖于抗蚀刻材料的开发。表1是短波长抗蚀技术中对抗蚀剂特性的要求,而下世纪在64M和256M DRAM的制作中,对抗蚀剂特性的要求将更高。在此就短波长紫外线光刻。
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关键词
抗
蚀刻
材料
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
下世纪的抗蚀刻材料
1
作者
周鹤年
出处
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第2期26-30,共5页
文摘
半导体大规模集成电路的集成度以相当快的速度逐年提高。现已大量生产4M DRAM(最小线宽0.8μm),1991~1992年将大量生产16M DRAM(最小线宽0.5μm)的产品。集成度之所以能如此急剧地提高是与光刻技术的发展分不开的,而该技术则依赖于抗蚀刻材料的开发。表1是短波长抗蚀技术中对抗蚀剂特性的要求,而下世纪在64M和256M DRAM的制作中,对抗蚀剂特性的要求将更高。在此就短波长紫外线光刻。
关键词
抗
蚀刻
材料
集成电路
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
下世纪的抗蚀刻材料
周鹤年
《化工新型材料》
CAS
CSCD
北大核心
1992
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