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利用导波光学方法测量光学薄膜材料的色散特性 被引量：1
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作者 胡又林 《光学工程》 CSCD 1989年第6期23-27,共5页
导波光学方法能够用来测量光学薄膜的特征参数,但通常只在单一波长条件下进行。本文将这种方法推广应用到一定光谱范围内的测量,从而研究薄膜材料的色散特性。
关键词 导波光学法 光学 薄膜 色散特性
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