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同步寄存器链中误码率的亚稳态分析
1
作者
王郑毅
刘文波
+2 位作者
代少飞
李开宇
朱鹏飞
《微电子学与计算机》
2021年第5期14-18,共5页
数字电路的亚稳态现象会导致数据发生误码,同步寄存器链常常被用于降低亚稳态发生的概率.为了量化由亚稳态导致的数据误码发生概率,本文从亚稳态产生的本质出发分析了亚稳态在同步寄存器链中传递的原因;推导了考虑线延迟与逻辑门延迟影...
数字电路的亚稳态现象会导致数据发生误码,同步寄存器链常常被用于降低亚稳态发生的概率.为了量化由亚稳态导致的数据误码发生概率,本文从亚稳态产生的本质出发分析了亚稳态在同步寄存器链中传递的原因;推导了考虑线延迟与逻辑门延迟影响的精确亚稳态稳定时间公式;设计了一种新亚稳态测试电路计算三种亚稳态输出结果发生的概率.在平均故障时间参数的基础上,计算了因为亚稳态而造成的同步寄存器链误码率和整个系统的误码率,给出了降低系统误码率的措施.
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关键词
亚稳态
稳定时间
亚稳态输出状态概率测试电路
同步
寄存器
链
误码率
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职称材料
题名
同步寄存器链中误码率的亚稳态分析
1
作者
王郑毅
刘文波
代少飞
李开宇
朱鹏飞
机构
南京航空航天大学自动化学院
高速载运设施的无损检测监控技术工信部重点实验室
出处
《微电子学与计算机》
2021年第5期14-18,共5页
基金
国家重点研发计划(2018YFB2003304)
国家自然科学基金(61871218)。
文摘
数字电路的亚稳态现象会导致数据发生误码,同步寄存器链常常被用于降低亚稳态发生的概率.为了量化由亚稳态导致的数据误码发生概率,本文从亚稳态产生的本质出发分析了亚稳态在同步寄存器链中传递的原因;推导了考虑线延迟与逻辑门延迟影响的精确亚稳态稳定时间公式;设计了一种新亚稳态测试电路计算三种亚稳态输出结果发生的概率.在平均故障时间参数的基础上,计算了因为亚稳态而造成的同步寄存器链误码率和整个系统的误码率,给出了降低系统误码率的措施.
关键词
亚稳态
稳定时间
亚稳态输出状态概率测试电路
同步
寄存器
链
误码率
Keywords
metastability
the settling time
test circuit for metastable output state of probability
synchronization chains
error rate
分类号
TP402 [自动化与计算机技术]
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题名
作者
出处
发文年
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1
同步寄存器链中误码率的亚稳态分析
王郑毅
刘文波
代少飞
李开宇
朱鹏飞
《微电子学与计算机》
2021
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