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模拟标样在古青铜镜主要成分X射线荧光光谱分析中的应用
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作者 毛振伟 华佑南 《理化检验（化学分册）》 CAS CSCD 北大核心 1989年第5期313-314,共2页
由于X射线荧光光谱分析具有样品无损分析优点,更适合某些新型合成材料、贵金属合金、考古样品等的分析。但在分析这些特殊样品时的最大困难是缺少标样。虽然基本参数法可不需要标样,但为了得到较好分析结果仍需要1至数个标样,其计算相... 由于X射线荧光光谱分析具有样品无损分析优点,更适合某些新型合成材料、贵金属合金、考古样品等的分析。但在分析这些特殊样品时的最大困难是缺少标样。虽然基本参数法可不需要标样,但为了得到较好分析结果仍需要1至数个标样,其计算相当复杂,目前大多数波长色散X射线荧光光谱仪还不能计算机连机使用,还较多地采用校正曲线法。对某些样品(例如考古样品)要解决一套理想的标样是很困难的,甚至不可能。对非常规样品分析,文献提出一种新的测试途径,采用模拟标样克服特殊样品标样少的困难。本文将此法应用于古青铜镜主要成分Cu、Sn、Pb分析,结果满意。 展开更多
关键词 古青铜镜 荧光光谱 成分 模拟标样
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