摘要
由于X射线荧光光谱分析具有样品无损分析优点,更适合某些新型合成材料、贵金属合金、考古样品等的分析。但在分析这些特殊样品时的最大困难是缺少标样。虽然基本参数法可不需要标样,但为了得到较好分析结果仍需要1至数个标样,其计算相当复杂,目前大多数波长色散X射线荧光光谱仪还不能计算机连机使用,还较多地采用校正曲线法。对某些样品(例如考古样品)要解决一套理想的标样是很困难的,甚至不可能。对非常规样品分析,文献提出一种新的测试途径,采用模拟标样克服特殊样品标样少的困难。本文将此法应用于古青铜镜主要成分Cu、Sn、Pb分析,结果满意。
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1989年第5期313-314,共2页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
