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双层锰氧化物薄膜中的应力效应 被引量：2
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作者 茶丽梅 张鹏翔 H.U.Habermeier 《昆明理工大学学报（理工版）》 2002年第6期45-47,51,共4页
双层钙钛矿结构的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7(X =0 .32 )单相薄膜生长在具有不同晶格参数的两种衬底上 .测量发现 ,两种衬底上生长的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7(X =0 .32 )薄膜具有迥然不同的金属-绝缘体转变温度TM -I及其他物性 .界面应力的研... 双层钙钛矿结构的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7(X =0 .32 )单相薄膜生长在具有不同晶格参数的两种衬底上 .测量发现 ,两种衬底上生长的La2 - 2XSr1 +2XMn2 O7(X =0 .32 )薄膜具有迥然不同的金属-绝缘体转变温度TM -I及其他物性 .界面应力的研究表明这是衬底晶格常数不同引起膜内应变的结果 .在衬底的压应力下 ,薄膜的电阻—温度曲线的峰值 (TM -I)向高温移动且电阻率 ( ρ)下降 ;相反 ,对于衬底张应力下的薄膜 ,TM -I下降ρ上升 .这些结果可以用双交换模型做很好的解释 . 展开更多
关键词 双层锰氧化物薄膜 应力效应 双层钙钛矿结构 物理性质 双交换模型
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双层钙钛矿(Sr_(2-x)Ba_x)FeMoO_6的结构和电磁性能研究
2
作者 冯晓梅 刘广耀 《南京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期567-570,共4页
利用X射线粉末衍射、R ietve ld结构精修技术及电、磁测试等手段分别对(S r2-xB ax)F eM oO6(0≤x≤2)的晶体结构及电磁性质进行了研究。研究结果表明:对于掺杂含量x≤1.6的(S r2-xB ax)F eM oO6样品,其电阻率温度关系呈金属性,而对于... 利用X射线粉末衍射、R ietve ld结构精修技术及电、磁测试等手段分别对(S r2-xB ax)F eM oO6(0≤x≤2)的晶体结构及电磁性质进行了研究。研究结果表明:对于掺杂含量x≤1.6的(S r2-xB ax)F eM oO6样品,其电阻率温度关系呈金属性,而对于掺杂含量x≥1.7的样品,其电阻率温度关系呈半导体性。居里温度TC在x=0.4处出现极大值。 展开更多
关键词 双层钙钛矿结构 电磁性能 X射线衍射(XRD) 居里温度(Tc)
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