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CMOS电路内结点桥接故障的动态IDDQ可测性研究 被引量：2
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作者 张新林 《宝鸡文理学院学报（自然科学版）》 CAS 2000年第1期56-58,共3页
采用了动态IDDQ测试方法来探讨静态CMOS电路桥接故障的可测性。
关键词 内结点 动态iddq测试 桥接故障 CMOS电路
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