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针孔缺陷对集成电路功能成品率影响分析与仿真被引量：4: 1; 作者马佩军郝跃刘红侠《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第1期102-106,共5页; 对集成电路针孔缺陷引起功能成品率下降的模型进行了研究 ,给出了分析和仿真针孔功能成品率的两种计算方法—— Monte- Carlo方法和关键面积提取方法。; 关键词集成电路仿真针孔缺陷功能成品率; 下载PDF 职称材料

VLSI成品率预测与仿真被引量：6: 2; 作者郝跃林锐马佩军《电子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第2期55-58,共4页; 本文建立ＩＣ光刻工艺相关缺陷计算模型和基于ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ统计成品率计算模型．阐述了集成电路功能成品率仿真系统ＸＤＹＥＳ实现，讨论了应用ＸＤＹＥＳ实现功能成品率设计，并给出该系统实用性验证．研究分析表明，其结... 展开更多; 关键词功能成品率预测仿真 VLSI; 下载PDF 职称材料

集成电路局部缺陷模型及其相关的功能成品率分析被引量：4: 3; 作者赵天绪郝跃《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2001年第2期138-142,共5页; 大规模集成电路 (VLSI)使亚微米特征尺寸的大面积集成电路制造以及集成数百万个器件在一芯片上成为可能。然而 ,缺陷的存在致使电路版图的拓扑结构发生变化 ,产生 IC电路连接错误 ,导致电路丧失功能 ,从而影响 IC的成品率 ,特别是功能... 展开更多; 关键词集成电路功能成品率缺陷模型 VLSI; 下载PDF 职称材料

集成电路功能成品率的研究被引量：1: 4; 作者赵天绪何广平 +1 位作者姜晓鸿郝跃《宝鸡文理学院学报（自然科学版）》 CAS 1999年第3期39-42,共4页; 集成电路功能成品率的研究是集成电路可制造性工程和设计中的重要内容。本文主要对导致成品率下降的缺陷的轮廓模型和集成电路的功能成品率的研究作了简单介绍。; 关键词集成电路成品率缺陷轮廓模型功能成品率; 下载PDF 职称材料

XD－YES：IC功能成品率模拟器的实现被引量：1: 5; 作者郝跃朱春翔张卫东《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1996年第4期365-371,共7页; 首先建立缺陷空间分布和粒径分布的模型，并讨论了缺陷通过版图产生电路错误的过程，给出了ＩＣ功能成品率模拟器ＸＤ－ＹＥＳ的实现。用ＸＤ－ＹＥＳ对微电子测试图和实际ＩＣ的功能成品率模拟和分析表明，其结果与实际符合很好，从而... 展开更多; 关键词功能成品率缺陷分布集成电路; 下载PDF 职称材料

微电子学、集成电路: 6; 《中国无线电电子学文摘》 1997年第4期51-54,共4页; 关键词集成电路模拟器智能卡技术微电子学缺陷空间分布功能成品率微电子测试 C功能西安电子科技大学固体电子学; 原文传递

半导体技术: 7; 《中国无线电电子学文摘》 1997年第5期41-50,共10页; 关键词半导体技术半导体产业动力学模型可制造性设计功能成品率发展趋势深能级华中理工大学半导体硅固体电子学; 原文传递

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