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谈传感器内腔的保护及密封质量引起的零点飘移问题
被引量：
1
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作者
武君婷
《衡器》
2000年第4期20-22,共3页
传感器零点和性能指标长期稳定性,与传感器内腔的保护及密封这一工艺环节有着密切关系,所以大多数厂家均采取加强内腔保护提高密封技术等措施,本文就这一工艺环节做一介绍,以供读者参考。
关键词
零点飘移
内腔
保护
胶封技术
传感器
密封质量
下载PDF
职称材料
题名
谈传感器内腔的保护及密封质量引起的零点飘移问题
被引量：
1
1
作者
武君婷
机构
济南金钟电子衡器股份有限公司
出处
《衡器》
2000年第4期20-22,共3页
文摘
传感器零点和性能指标长期稳定性,与传感器内腔的保护及密封这一工艺环节有着密切关系,所以大多数厂家均采取加强内腔保护提高密封技术等措施,本文就这一工艺环节做一介绍,以供读者参考。
关键词
零点飘移
内腔
保护
胶封技术
传感器
密封质量
分类号
TP212 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
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1
谈传感器内腔的保护及密封质量引起的零点飘移问题
武君婷
《衡器》
2000
1
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