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八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究
1
作者 高力立 单羽 《实验技术与管理》 CAS 2001年第1期57-60,共4页
本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量做了介绍。
关键词 八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡
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