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八位嵌入式微处理器内核的测试方法研究

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摘要 本文在对八位嵌入式微处理器内核性能分析的基础上研究了它的测试方法，并对其测试矢量做了介绍。
作者 高力立 单羽
机构地区 清华大学微电子学研究所
出处 《实验技术与管理》 CAS 2001年第1期57-60,共4页 Experimental Technology and Management
关键词 八位嵌入式微处理器内核 测试矢量 测试方法 智能卡
分类号 TN492 [电子电信—微电子学与固体电子学] TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
  • 相关文献

参考文献1

  • 1单羽.八位嵌入式微处理器和十六位RSA协处理器的设计与实现（毕业论文）[M].清华大学电子工程系,1999,12.. 被引量：1
实验技术与管理
2001年 第1期

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