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芯片ATE测试CP电修调的优化分析
1
作者 朱刚俊 张洪俞 《集成电路应用》 2024年第3期62-63,共2页
阐述一种芯片ATE测试之CP电修调的测试优化方法,该方法使测试效率明显提高,极大程度降低芯片的测试成本,对测试机台的硬件要求不高,可以适用于各种不同测试平台的CP测试。
关键词 集成电路 trim FUSE CP Test 电修调 烧铝
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一种数字模块电源实现模拟trim功能的方法 被引量：1
2
作者 尹利文 《电子科技》 2017年第3期167-169,173,共4页
数字模块电源和模拟模块电源的trim功能的实现方法是完全不同的,在客户实际应用中难以兼容。基于使数字trim兼容模拟trim的目的,在分析模拟硬件trim实现原理的基础上,推导出了一种检测trim比例的硬件电路,结合数字控制的特点,给出了对... 数字模块电源和模拟模块电源的trim功能的实现方法是完全不同的,在客户实际应用中难以兼容。基于使数字trim兼容模拟trim的目的,在分析模拟硬件trim实现原理的基础上,推导出了一种检测trim比例的硬件电路,结合数字控制的特点,给出了对应的软件算法。通过软硬件结合,在以UCD3138数字控制器为核心的一个12 V输出模块电源上进行了实验验证。实验结果证明,数字trim方法实现了对模拟trim功能的完全兼容。 展开更多
关键词 数字模块电源 trim电路 trim算法
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一种高精度低温度系数带隙基准源 被引量：3
3
作者 王文建 《电子器件》 CAS 北大核心 2017年第5期1065-1067,共3页
通过相同材料电阻的比值来抵消带隙基准源的一阶温度系数来达到低温度系数,同时还设计了修调电路进一步提高基准电压的精度。采用0.8μm BiCMOS 9V工艺流片,带隙基准源面积为0.035 mm^2。结果表明:在-40℃~125℃范围内,基准电压的温度... 通过相同材料电阻的比值来抵消带隙基准源的一阶温度系数来达到低温度系数,同时还设计了修调电路进一步提高基准电压的精度。采用0.8μm BiCMOS 9V工艺流片,带隙基准源面积为0.035 mm^2。结果表明:在-40℃~125℃范围内,基准电压的温度系数为11×10^(-6)/℃;电源电压在4.5 V^9.0 V范围内变化时,基准电压的变化量为0.4 m V,电源调整率为0.09 m V/V。 展开更多
关键词 温度系数 修调电路 带隙基准 电源调整率
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基于ASL1000的Bandgap Trim 设计及其算法研究 被引量：2
4
作者 付贤松 马富民 +2 位作者 田会娟 杜桥 罗涛 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2019年第1期54-58,76,共6页
在芯片生产过程中,由于工艺的影响,带隙基准电压V_(BG)会存在偏差。在芯片测试阶段,需要对V_(BG)进行trim修调,使其满足芯片参数要求。简要分析了带隙基准电压误差的来源,提出了一种E-Fuse修调电路,通过程序中的代码控制修调电阻的大小,... 在芯片生产过程中,由于工艺的影响,带隙基准电压V_(BG)会存在偏差。在芯片测试阶段,需要对V_(BG)进行trim修调,使其满足芯片参数要求。简要分析了带隙基准电压误差的来源,提出了一种E-Fuse修调电路,通过程序中的代码控制修调电阻的大小,使V_(BG)满足要求。同时,在该修调电路的基础上,采用了一种新型算法,使得测试芯片V_(BG)的时间缩短了近558 ms,减少了测试时间,降低了测试成本。 展开更多
关键词 带隙基准电压 E-Fuse 修调电路 算法
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一种适用于DC/DC控制器的测试及修调电路设计 被引量：2
5
作者 李飞 《微电子学与计算机》 2023年第3期107-116,共10页
采用0.25μm BCD商用工艺,设计了一种适用于DC/DC控制器的测试及修调电路.该电路基于引脚功能复用的思胳,通过对特定引脚施加特定信号,在不影响控制器正常工作时的引脚信号状态的情况下,既能够在圆片级或封装后实现内部信号的读取以及... 采用0.25μm BCD商用工艺,设计了一种适用于DC/DC控制器的测试及修调电路.该电路基于引脚功能复用的思胳,通过对特定引脚施加特定信号,在不影响控制器正常工作时的引脚信号状态的情况下,既能够在圆片级或封装后实现内部信号的读取以及参数指标的修调,又能够克服封装寄生效应对高电压精度以及大电流测试的影响,具有测试操作简单、测试成本低廉、测试范围广泛等优点.该电路缓解了传统PAD扎针加压方案在熔丝数量较多时突出的面积问题;解决了传统激光切割方案需要昂贵激光修调设备及编写ATE程序的成本问题;改善了两种传统修调方案均只能在圆片级测试,不适合高精度、大电流测试的应用问题.该电路内部结构包括寄存器时钟及数据输入电路、测试及修调使能电路、测试及修调阵列电路、测试数据输出电路.仿真结果表明,在DC/DC控制器开环状态下,通过配置特定端口的数据位,能够通过测试电路实现振荡器输出振荡信号等内部典型信号的输出,实现关键指标导通电阻的测试,通过修调电路实现关键参数基准电压精度的修调. 展开更多
关键词 DC/DC控制器 测试及修调电路 引脚功能复用 测试操作简单 测试成本低廉 测试范围广泛
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芯片测试的修调与优化 被引量：1
6
作者 董泽芳 朱刚俊 《集成电路应用》 2022年第8期30-31,共2页
阐述集成电路制造中芯片测试技术,四种trim的分类和修调与优化,基于案例分析,探讨trim的方法,提供trim的具体修调方法。
关键词 集成电路测试 激光修调 EEPROM trim
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