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SiC单晶生长 被引量:10
1
作者 刘喆 徐现刚 《材料科学与工程学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期274-278,共5页
本文综述了国际上SiC单晶生长的发展历史及现状。从其结构特点生长方法的选择 。
关键词 SIC单晶 碳化硅 宽禁带半导体 晶体生长 气相生长 晶体缺陷
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生长单晶用SiC粉料合成工艺研究进展 被引量:10
2
作者 马康夫 王英民 +1 位作者 李斌 徐伟 《电子工艺技术》 2016年第3期128-134,共7页
Si C以其优异的物理化学性能在很多领域都有着广泛的应用前景,做为第三代半导体材料,Si C单晶是制作高频、大功率电子器件的理想材料。针对用于单晶生长的高纯Si C粉料的合成方法与合成工艺的研究现状进行了阐述,并对不同合成方法优缺... Si C以其优异的物理化学性能在很多领域都有着广泛的应用前景,做为第三代半导体材料,Si C单晶是制作高频、大功率电子器件的理想材料。针对用于单晶生长的高纯Si C粉料的合成方法与合成工艺的研究现状进行了阐述,并对不同合成方法优缺点进行了评述,不同合成工艺对合成产物的影响进行了总结,提出了生长单晶用Si C粉料的研究方向。 展开更多
关键词 SIC 生长单晶 粉料 合成
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勾形磁场中直拉硅单晶浓度场的数值模拟研究 被引量:6
3
作者 王英伟 刘景和 +1 位作者 程灏波 李建利 《硅酸盐学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第2期133-139,共7页
为有效控制晶体尺寸、金属杂质含量、掺杂元素及氧分布的均匀性,提出在非均匀轴对称勾形磁场中利用磁控提拉法生长硅单晶。用有限差分法对非均匀轴对称勾形磁场中直拉硅单晶体系中的浓度场进行数值模拟研究,基于直拉硅单晶生长系统的物... 为有效控制晶体尺寸、金属杂质含量、掺杂元素及氧分布的均匀性,提出在非均匀轴对称勾形磁场中利用磁控提拉法生长硅单晶。用有限差分法对非均匀轴对称勾形磁场中直拉硅单晶体系中的浓度场进行数值模拟研究,基于直拉硅单晶生长系统的物理及数学模型,进行无量纲化处理,借助于相应的边界条件进行求解,并针对不同工艺条件下熔体中及界面处氧浓度分布情况进行模拟研究。结果表明:在勾形磁场作用下,通过改变磁场强度、晶体和坩埚转速及晶体半径可有效控制固液界面处氧浓度及分布均匀性,从而在晶体中获得径向均匀的氧浓度。 展开更多
关键词 硅单晶 引上法晶体生长 勾形磁场 浓度场 有限差分法 数值模拟
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蓝宝石衬底上异质外延生长碳化硅薄膜的研究 被引量:7
4
作者 王剑屏 郝跃 +2 位作者 彭军 朱作云 张永华 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第8期1793-1797,共5页
报道了在蓝宝石 (α Al2 O3)衬底上采用atmosphericpressurechemicalvapor(APCVD)技术异质外延碳化硅薄膜材料的研究 .通过引入Ⅲ Ⅴ族氮化物为中间的缓冲层 ,在C(0 0 0 1)蓝宝石上成功地生长出SiC薄膜 ,经过四晶衍射分析 ,分别在 35 ... 报道了在蓝宝石 (α Al2 O3)衬底上采用atmosphericpressurechemicalvapor(APCVD)技术异质外延碳化硅薄膜材料的研究 .通过引入Ⅲ Ⅴ族氮化物为中间的缓冲层 ,在C(0 0 0 1)蓝宝石上成功地生长出SiC薄膜 ,经过四晶衍射分析 ,分别在 35 4 9°和 75 0 2°发现了 6H SiC(0 0 0 6 )面和 (0 0 0 12 )晶面族的对称衍射峰 ,显示SiC薄膜的晶体取向与(0 0 0 1)面的衬底是相同的 .扫描电子显微镜 (SEM)的观察显示薄膜表面连续、光滑 ,不要利用二次离子质谱仪(SIMS)方法对生长膜层在纵向剖面的元素结构进行了分析 。 展开更多
关键词 蓝宝石衬底 异质外延生长 碳化硅薄膜 化学汽相淀积
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阿伏加德罗常数测定的新进展 被引量:7
5
作者 易洪 《计量学报》 EI CSCD 北大核心 2007年第4期394-399,共6页
准确测定阿伏加德罗常数是实现用原子质量重新定义质量单位kg的有效途径。介绍了阿伏加德罗常数测定的历史、进展和前景。阿伏加德罗常数是联系宏观世界和微观世界的桥梁,是科学研究的前沿。测定阿伏加德罗常数利用了单晶硅晶体的结构... 准确测定阿伏加德罗常数是实现用原子质量重新定义质量单位kg的有效途径。介绍了阿伏加德罗常数测定的历史、进展和前景。阿伏加德罗常数是联系宏观世界和微观世界的桥梁,是科学研究的前沿。测定阿伏加德罗常数利用了单晶硅晶体的结构周期性和完整性,促进了原子量精密测量技术、密度精密测量技术、纳米量级精密测量技术以及材料制备和表征技术的发展。 展开更多
关键词 计量学 阿伏加德罗常数 摩尔 单晶硅 原子量 晶格常数
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杂质对单晶硅材料硬度的作用 被引量:5
6
作者 李东升 杨德仁 阙端麟 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第7期798-803,共6页
室温下使用维氏硬度计研究了硅单晶表面的接触损伤及硅单晶中杂质对表面损伤的影响 .实验发现 ,硅单晶的硬度不仅与晶体的本身特性——晶向有关 ,还与所掺入杂质的种类和浓度有关 .损伤造成的裂纹倾向于沿着〈1 1 0〉晶向扩展 ,而且 { 1... 室温下使用维氏硬度计研究了硅单晶表面的接触损伤及硅单晶中杂质对表面损伤的影响 .实验发现 ,硅单晶的硬度不仅与晶体的本身特性——晶向有关 ,还与所掺入杂质的种类和浓度有关 .损伤造成的裂纹倾向于沿着〈1 1 0〉晶向扩展 ,而且 { 1 1 1 }面上的硬度要大于 { 1 0 0 }面 .重掺 n型单晶由于能带结构的变化而使硬度下降 ;相反 ,重掺 展开更多
关键词 硬度 杂质 硅单晶 晶向 PACC 6170L 6170M 6170R
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热丝法低温生长硅上单晶碳化硅薄膜 被引量:5
7
作者 张荣 施洪涛 +3 位作者 郑有 于是东 何宇亮 刘湘娜 《高技术通讯》 CAS CSCD 1994年第11期10-13,共4页
提出了热丝化学气相淀积法,在低温(600-750℃)下成功地生长出硅上单晶碳化硅薄膜,X光衍射谱、喇曼光谱证实了外延膜的单晶结构,光致发光测量证明外延SiC材料室温下可稳定发射可见光。
关键词 热丝法 低温生长 碳化硅 单晶
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HFCVD法制备SiC薄膜工艺 被引量:5
8
作者 赵武 王雪文 +1 位作者 邓周虎 张志勇 《西北大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2002年第3期247-250,共4页
分析研究了热丝化学汽相沉积 (HFCVD)法工艺参数的变化对 Si C薄膜质量的影响。结果表明 ,合理的选取工艺参数 ,可在较低温度 (70 0~ 90 0℃ )下 ,沿 Si(1 1 1 )晶向异质生长出高质量的准晶 Si C薄膜。
关键词 HFCVD法 SIC薄膜 低温生长 碳化硅薄膜 准晶 热丝化学汽相沉积法 制备工艺 半导体材料
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Review of solution growth techniques for 4H-SiC single crystal 被引量:1
9
作者 Gang-qiang Liang Hao Qian +3 位作者 Yi-lin Su Lin Shi Qiang Li Yuan Liu 《China Foundry》 SCIE CAS CSCD 2023年第2期159-178,共20页
Silicon carbide(SiC),a group IV compound and wide-bandgap semiconductor for high-power,high-frequency and high-temperature devices,demonstrates excellent inherent properties for power devices and specialized high-end ... Silicon carbide(SiC),a group IV compound and wide-bandgap semiconductor for high-power,high-frequency and high-temperature devices,demonstrates excellent inherent properties for power devices and specialized high-end markets.Solution growth is thermodynamically favorable for producing SiC single crystal ingots with ultra-low dislocation density as the crystallization is driven by the supersaturation of carbon dissolved in Si-metal solvents.Meanwhile,solution growth is conducive to the growth of both N-and P-type SiC,with doping concentrations ranging from 10^(14)to 10^(19)cm^(-3).To date,4-inch 4H-SiC substrates with a thickness of 15 mm produced by solution growth have been unveiled,while substrates of 6 inches and above are still under development.Based on top-seeded solution growth(TSSG),several growth techniques have been developed including solution growth on a concave surface(SGCS),melt-back,accelerated crucible rotation technique(ACRT),two-step growth,and facet growth.Multi-parameters of the solution growth including meniscus,solvent design,flow control,dislocation conversion,facet growth,and structures of graphite components make high-quality single crystal growth possible.In this paper,the solution growth techniques and corresponding parameters involved in SiC bulk growth were reviewed. 展开更多
关键词 wide-bandgap semiconductor silicon carbide bulk growth of single crystal process parameters
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300mm直拉单晶硅中的氮元素对氧化诱生层错的影响 被引量:5
10
作者 韩海建 周旗钢 戴小林 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第2期223-226,共4页
采用直拉法生长普通和掺氮硅单晶,研究不同含氮浓度的晶体中氧化诱生层错(OSF)的行为。从4组晶体的相同位置取样,并对样品进行1100℃湿氧氧化实验。实验结果表明,随着晶体中氮浓度的增加样品中氧化诱生层错环(OSF-ring)宽度变大,且环内... 采用直拉法生长普通和掺氮硅单晶,研究不同含氮浓度的晶体中氧化诱生层错(OSF)的行为。从4组晶体的相同位置取样,并对样品进行1100℃湿氧氧化实验。实验结果表明,随着晶体中氮浓度的增加样品中氧化诱生层错环(OSF-ring)宽度变大,且环内OSF缺陷的密度增加。这说明,氮的掺入促进了晶体中满足OSF形核要求的原生氧沉淀的形成,使OSF形核区变大。 展开更多
关键词 掺氮 300 MM 氧化诱生层错(OSF) 直拉单晶硅
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应用AFM研究单晶硅、锗的超精密车削表面微观形貌 被引量:3
11
作者 韩红玉 董申 赵奕 《工具技术》 EI 北大核心 2000年第2期22-25,共4页
单晶硅、锗的超精密车削表面存在明暗相间的分布特征。本文主要对该现象的产生原因进行了研究,认为车削过程中垂直解理面的切削分力的连续变化是产生这种分布特征的主要因素。
关键词 超精密车削 单晶硅 单晶锗 AFM 表面形貌
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金属硅对焦磷酸法测定呼吸性粉尘中游离二氧化硅含量的干扰研究
12
作者 刘晓红 杨珅 +2 位作者 乐智广 杨立新 李刚 《中国卫生工程学》 CAS 2023年第2期154-156,161,共4页
目的探讨焦磷酸法测定金属硅作业场所呼吸性粉尘中游离二氧化硅含量时可能存在的干扰因素对测量结果的影响。方法主要从焦磷酸对金属硅呼尘的溶解作用、氢氟酸对实验结果的影响、滤膜对游离二氧化硅呼尘检测结果的影响3个环节验证焦磷... 目的探讨焦磷酸法测定金属硅作业场所呼吸性粉尘中游离二氧化硅含量时可能存在的干扰因素对测量结果的影响。方法主要从焦磷酸对金属硅呼尘的溶解作用、氢氟酸对实验结果的影响、滤膜对游离二氧化硅呼尘检测结果的影响3个环节验证焦磷酸法测定金属硅作业场所呼吸性粉尘中游离二氧化硅含量的可行性。结果3个环节的实验结果偏离已知指标较大,金属硅的回收率为66.8%;金属硅经氢氟酸处理后的平均回收率为142.5%;游离二氧化硅呼尘的最大回收率仅为43.2%。结论焦磷酸法测定金属硅作业环境中呼吸性粉尘中游离二氧化硅含量时,检测结果的误差较大。实验结果为进一步研究改进作业场所游离二氧化硅分析检测方法的必要性提供了依据。 展开更多
关键词 金属硅 单晶硅 焦磷酸法 游离二氧化硅含量
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Preparation and Tribological Investigation of Rare Earth Nanofilm on Single-Crystal Silicon Substrate 被引量:2
13
作者 王梁 程先华 《Journal of Rare Earths》 SCIE EI CAS CSCD 2006年第1期44-49,共6页
The self-assembled silicon substrate. The resultant contact angle meter and atomic method was introduced to successfully obtain film was characterized by means of X-ray rare earth(RE) nanofilm on a single-crystal ph... The self-assembled silicon substrate. The resultant contact angle meter and atomic method was introduced to successfully obtain film was characterized by means of X-ray rare earth(RE) nanofilm on a single-crystal photoelectron spectroscopy (XPS), ellipsometer, force microscopy (AFM). The scratch experiment was performed for interfacial adhesion measurement of the RE film. The friction and wear behavior of RE nanofilm was examined on a DF-PM reciprocating friction and wear tester. The results indicate the RE nanofilm is of low coefficient of friction (COF) and high wear resistance. These desirable characteristics of RE nanofilm together with its nanometer thickness, strong bonding to the substrate and low surface energy make it a promising choice as a solid lubricant film in micro electromechanical system (MEMS) devices. 展开更多
关键词 NANOFILM tribological properties MEMS single-crystal silicon rare earths
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基于数值模拟的太阳能直拉硅单晶热场降耗研究 被引量:4
14
作者 邓先亮 任忠鸣 +1 位作者 邓康 吴亮 《稀有金属材料与工程》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第11期2907-2911,共5页
通过计算机数值模拟仿真技术分析了TDR-95A-ZJS型22英寸太阳能直拉硅单晶热场结构中影响能耗的主要因素。基于模拟结果提出了通过改变部分热场结构及保温毡布局等优化措施可有效降低原有热场功耗。实际生产实验表明,优化后的热场在保证... 通过计算机数值模拟仿真技术分析了TDR-95A-ZJS型22英寸太阳能直拉硅单晶热场结构中影响能耗的主要因素。基于模拟结果提出了通过改变部分热场结构及保温毡布局等优化措施可有效降低原有热场功耗。实际生产实验表明,优化后的热场在保证晶体生长原有质量前提下较原有热场节能29%。 展开更多
关键词 数值模拟 直拉硅单晶 热场 功耗
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X射线衍射法测量碳化硅单晶的残余应力 被引量:3
15
作者 邓亚 张宇民 周玉锋 《力学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第1期147-153,共7页
为了准确评估晶体的质量、提高器件的使用性能,本文围绕单晶碳化硅材料残余应力方面开展了相关研究工作.首先通过对原有的多重线性回归分析方法加以改进,推导出适用于求解六方晶系单晶碳化硅试样所处应力状态的相关理论.其次,采用该方... 为了准确评估晶体的质量、提高器件的使用性能,本文围绕单晶碳化硅材料残余应力方面开展了相关研究工作.首先通过对原有的多重线性回归分析方法加以改进,推导出适用于求解六方晶系单晶碳化硅试样所处应力状态的相关理论.其次,采用该方法对沿着[1010]取向生长的6H-SiC单晶片进行了残余应力检测,同时选用{214}晶面族作为测量衍射面.最后,探究了来源于不同晶面组数的数据进行计算时对残余应力测量结果的影响.结果显示:采用多重线性回归分析方法可以实现单晶6H-SiC的面内残余应力的测定;当给定无应力晶面间距d;的精确值时,该应力结果的误差高于选用5组以上(hkl)晶面数计算得到的残余应力结果的误差;如果d;未知,则随着参与应力计算的晶面组数的增加,平面残余应力的误差结果会逐渐降低并趋于平稳.这表明实验测定的残余应力结果具有较高的精度.另外,为了保证实验测得的应力结果的可靠性,应该选用六组及以上衍射面数通过多元回归分析方法来求解单晶碳化硅试样所处的残余应力状态. 展开更多
关键词 碳化硅 单晶材料 残余应力 X射线衍射法
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300 mm单晶硅生长过程中直径的功率控制方法 被引量:3
16
作者 张俊 林勇刚 +2 位作者 高宇 李阳健 曹建伟 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第6期687-694,共8页
直拉法硅单晶生长过程微缺陷的形成和长大遵循Voronkov提出的V/G(V是晶体生长速度,G是晶体生长界面的轴向温度梯度)理论。在G由热场设计和液面位置决定的前提下,单晶硅生长过程中晶体提升速度的精确控制是生长无空洞型原生微缺陷大尺寸... 直拉法硅单晶生长过程微缺陷的形成和长大遵循Voronkov提出的V/G(V是晶体生长速度,G是晶体生长界面的轴向温度梯度)理论。在G由热场设计和液面位置决定的前提下,单晶硅生长过程中晶体提升速度的精确控制是生长无空洞型原生微缺陷大尺寸单晶硅的关键。为控制晶体的提升速度处于无原生微缺陷单晶硅生长所需的范围内,同时获得±1 mm的直径控制效果,需要解决复杂的热传递过程导致晶体直径变化相对于功率调节大滞后性的问题。研究了通过调节加热功率控制晶体直径的时滞系统理论模型,提出了模糊比例、积分、微分(PID)控制结合Smith预估控制器的控制策略。结果表明,Smith预估控制器能有效消除系统迟滞对控制器的影响,大幅提高系统的稳定性。同时结合Smith预估控制器,普通PID控制策略和模糊PID控制策略均有较好的控制效果,且模糊PID响应更为快速,系统鲁棒性和抗干扰能力更强。在30 mm·h^(-1)晶体提升速度的条件下,降低晶体内流动图形缺陷(FPD)密度,并实现了直径300 mm单晶硅晶体直径的精确控制,精度达到±1 mm。 展开更多
关键词 直拉法(CZ) 单晶硅 无空洞型原生微缺陷(COP) 直径控制 恒定拉速 加热功率
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雪崩探测器用硅材料中微缺陷的初步探讨 被引量:2
17
作者 浦树德 王旗 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1995年第1期35-39,共5页
综述了国内外同行对硅材料中微缺陷的有关研究,叙述了微缺陷(下称MD)对硅雪崩光电探测器(Si-APD)性能的影响和消除措施,介绍了目前已有的检测方法,最后进行了讨论。
关键词 硅单晶 微缺陷 硅材料 雪崩探测器
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初始埚位对单晶少子寿命的影响 被引量:3
18
作者 任丽 罗晓英 +1 位作者 李宁 王倩 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第10期782-785,共4页
在KX260晶体生长系统上装备24英寸(1英寸=2.54 cm)热场,装料量为120 kg。采用5种不同的初始埚位(-50,-60,-70,-80,-90 mm),其他工艺参数相同的晶体生长工艺,拉制了5根200 mm、p型、晶向〈100〉、电阻率2Ω.cm的单晶硅棒。待硅棒冷却后... 在KX260晶体生长系统上装备24英寸(1英寸=2.54 cm)热场,装料量为120 kg。采用5种不同的初始埚位(-50,-60,-70,-80,-90 mm),其他工艺参数相同的晶体生长工艺,拉制了5根200 mm、p型、晶向〈100〉、电阻率2Ω.cm的单晶硅棒。待硅棒冷却后,取片进行少子寿命和氧含量的测试,根据所得数据分析不同初始埚位对少子寿命的影响。由分析结果得出结论:随着初始埚位的提升,单晶硅棒少子寿命逐渐降低。结合实际生产利润及硅片品质需要,最后得到最适合晶体生长的初始埚位是-70 mm。 展开更多
关键词 直拉硅单晶 初始埚位 少子寿命 氧含量 硅棒
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Effect of 6H-SiC crystal growth shapes on thermo-elastic stress in the growing crystal 被引量:1
19
作者 Yong-gui Shi Pei-yun Dai Jian-feng Yang Zhi-hao Jin Hu-lin Liu 《International Journal of Minerals,Metallurgy and Materials》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第7期622-627,共6页
The effect of 6H-SiC crystal growth shapes on the thermo-elastic stress distribution in the growing crystal was systematically in- vestigated by using a finite element method. The thermo-elastic stress distribution in... The effect of 6H-SiC crystal growth shapes on the thermo-elastic stress distribution in the growing crystal was systematically in- vestigated by using a finite element method. The thermo-elastic stress distribution in the crystal with a flat growth shape was more homoge- neous than that in the crystals with concave and convex growth shapes, and the value of thermo-elasticity in the crystal with a fiat growth shape was also smaller than that in the two other types of crystals. The maximum values of thermo-elastic stress appeared at interfaces be- tween the crystal and the graphite lid. If the lid was of the same properties as 6H-SiC, the thermo-elastic stress would decrease in two orders of magnitude. Thus, to grow 6H-SiC single crystals of high quality, a transition layer of SiC formed by deposition or reaction is suggested; meanwhile the thermal field in the growth chamber should be adjusted to maintain the crystals with fiat growth shapes. 展开更多
关键词 silicon carbide THERMO-ELASTICITY physical vapor transport single crystals crystal growth finite element method
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Weakening of the anisotropy of surface roughness in ultra-precision turning of single-crystal silicon 被引量:1
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作者 Wang Minghai Wang Ben Zheng Yaohui 《Chinese Journal of Aeronautics》 SCIE EI CAS CSCD 2015年第4期1273-1280,共8页
Ultra-precision machining causes materials to undergo a greatly strained deformation process in a short period of time.The effect of shear strain rates on machining quality, in particular on surface anisotropy, is a t... Ultra-precision machining causes materials to undergo a greatly strained deformation process in a short period of time.The effect of shear strain rates on machining quality, in particular on surface anisotropy, is a topic deserving of research that has thus far been overlooked.This study analyzes the impact of the strain rate during the ultra-precision turning of single-crystal silicon on the anisotropy of surface roughness.Focusing on the establishment of cutting models considering the tool rake angle and the edge radius, this is the first research that takes into account the strain rate dislocation emission criteria in studying the effects of the edge radius, the cutting speed, and the cutting thickness on the plastic deformation of single-crystal silicon.The results of this study show that the uses of a smaller edge radius, faster cutting speeds, and a reduced cutting thickness can result in optimally uniform surface roughness, while the use of a very sharp cutting tool is essential when operating with smaller cutting thicknesses.A further finding is that insufficient plastic deformation is the major cause of increased surface roughness in the ultra-precision turning of brittle materials.On this basis, we propose that the capacity of single-crystal silicon to emit dislocations be improved as much as possible before brittle fracture occurs, thereby promoting plastic deformation and minimizing the anisotropy of surface roughness in the machined workpiece. 展开更多
关键词 Anisotropy of surface roughness Cutting speed Edge radius single-crystal silicon Strain rate Ultra-precision turning WEAKENING
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