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采用反相方法测试台架测定3．3kV IGCT的特性
1
作者 S.阿尔瓦雷斯 P.拉杜克斯 +3 位作者 J.布拉奎尔 E.卡洛尔 P.斯特瑞特 张斌 《电力电子》 2004年第6期37-43,共7页
采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kV IGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超... 采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kV IGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超过1kHz)和大电流工况,以改善大功率变换器的性能。 展开更多
关键词 特性测试 集成门极换流晶闸管(IGCT) 反相方法测试台架
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采用反相方法测试台架测定3．3kV IGCT的特性(英文)
2
作者 S.阿尔瓦雷斯 P.拉杜克斯 +2 位作者 J.布拉奎尔 E.卡洛尔 P.斯特瑞特 《电力电子》 2004年第5期68-74,共7页
采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kV IGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超... 采用反相方法测试台架在实际工作条件下,对ABB公司提供的实验性3.3kV IGCT进行了特性测定。这种器件在硬开关运行下的导通损耗非常小,开关损耗也降低了。这就表明一种新型大功率/中电压半导体器件已经问世,它们可以用于较高开关频率(超过1kHz)和大电流工况,以改善大功率变换器的性能。 展开更多
关键词 特性测试 集成门极换流晶闸管(IGCT) 反相方法测试台架
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