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半导体洁净室内分子级污染物的控制方法
被引量:
6
1
作者
周金锋
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期495-496,500,共3页
对洁净室内分子级污染物(AMC)的分类、取样监测方法以及针对不同制程所采用通用的污染控制方法进行了较为全面的归纳和总结。对不同类型的污染源头进行分类识别,并举出实例,给出了几种控制污染的方法。分析了具体问题的实际情况,讨论了...
对洁净室内分子级污染物(AMC)的分类、取样监测方法以及针对不同制程所采用通用的污染控制方法进行了较为全面的归纳和总结。对不同类型的污染源头进行分类识别,并举出实例,给出了几种控制污染的方法。分析了具体问题的实际情况,讨论了主要的污染源及具体产品的环境控制要求,以找到最合理、有效的处理方法。
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关键词
洁净室
分子级污染物
污染控制方法
监测
下载PDF
职称材料
题名
半导体洁净室内分子级污染物的控制方法
被引量:
6
1
作者
周金锋
机构
中芯国际集成电路(上海)制造有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第6期495-496,500,共3页
文摘
对洁净室内分子级污染物(AMC)的分类、取样监测方法以及针对不同制程所采用通用的污染控制方法进行了较为全面的归纳和总结。对不同类型的污染源头进行分类识别,并举出实例,给出了几种控制污染的方法。分析了具体问题的实际情况,讨论了主要的污染源及具体产品的环境控制要求,以找到最合理、有效的处理方法。
关键词
洁净室
分子级污染物
污染控制方法
监测
Keywords
clean
room
AMC
contamination
control
method
monitoring
specific
products
分类号
TN305.97 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
半导体洁净室内分子级污染物的控制方法
周金锋
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008
6
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职称材料
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